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Gama Phenom SEM


Microscopios Electrónicos de Barrido de Sobremesa

Microscopios Electrónicos de Barrido de Sobremesa con soluciones de imágen y sistema de análisis de Rayos X para aplicaciones en la escala submicrónica. Estos sistemas basados ​​en la Microscopía Electrónica de Barrido - SEM se emplean en una amplia gama de mercados y aplicaciones. 

Muchos laboratorios de investigación que tienen una gran necesidad de microscopía electrónica de barrido, han decidido adquirir un sistema SEM de sobremesa junto a los microscopios ópticos y SEM de alta gama. Esto crea un enorme valor, ya que el sistema SEM de sobremesa no sólo supera las limitaciones de la microscopía óptica, sino que además puede realizar cualquier trabajo de microscopía electrónica de barrido que exige aumentos de hasta 130.000x.

Por otro lado, estos equipos proporcionan aumentos con un excelente contraste del material y profundidad de foco. De esta manera se puede multiplicar la capacidad de su SEM de alta gama en un factor de 2 hasta 5 en función de la distribución de puestos de trabajo. En promedio 3 de cada 5 puestos de trabajo en microscopía electrónica de barrido puede hacerse perfectamente con el Phenom SEM de sobremesa.

Todos los productos de Phenom-World son intuitivos en su uso, rápidos para crear resultados y construidos con estándares de alta calidad. Estos principios básicos se han empleado para desarrollar y crear el sistema de máximas prestaciones Phenom ProX y el nuevo XL para muestras grandes.

Con el SEM de sobremesa Phenom ProX, podemos examinar físicamente las estructuras de la muestra y la determinación de su composición elemental y con el XL podemos escanear motorizadamente muestras de hasta 100mmx100mm.