TEST

APT


Detectores de Tomografía de sonda atómica

La tomografía de sonda atómica (APT o sonda atómica 3D) es la única técnica de análisis de material que ofrece una extensa capacidad para la medición de composición química así como para la obtención de imágenes en 3D a escala atómica (aproximadamente una resolución de 0,1-0,3 nm en profundidad y 0,3-0,5 nm lateralmente). Desde el inicio de su desarrollo, la tomografía de sonda atómica ha contribuido a los principales avances en la ciencia de materiales.

El detector permite medir de forma simultánea:

  • el tiempo de vuelo de los iones: la medición del tiempo entre el pulso láser o de voltaje y la llegada al PSD permite determinar la relación m/q (relación de masa sobre carga).
  • la posición (X, Y) del impacto iónico en el detector: la medición de la posición X-Y y la orden de llegada de los iones en el PSD permiten reconstruir la posición original de los átomos en la punta.

Al repetir esta secuencia, los átomos se eliminan progresivamente de la punta, y se puede reconstruir una imagen 3D del material a escala atómica.

La línea de productos de tomografía de sonda atómica de CAMECA comprende la familia LEAP 5000 y la familia APT EIKOS. Las sondas atómicas de CAMECA se desarrollan en colaboración con GPM, Grupo de Investigación de Materiales, de la Universidad de Rouen, Francia.

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EIKOS
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Leap 5000
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