TEST

FE-SEM


Field-Emission Scanning Electron Microscopes
Con la adopción de la fuente de electrones FE de alto brillo, FE-SEM puede enfocar mejor el haz de electrones que el SEM convencional que emplea la fuente de electrones termoiónicos, y por lo tanto puede obtener una mayor resolución. También proporciona imágenes bastante claras incluso a baja tensión de aceleración para permitir la observación de la microestructura.

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