TEST

FlexSEM


Microscopio electrónico de barrido FlexSEM 1000 II de Hitachi

FlexSEM 1000 emplea una fuente de electrones termiónónicos y logra una resolución de 4.0nm . Su modo de bajo vacío permite observar rápidamente las muestras poco conductivas sin recubrimiento metálico. Este Microscopio se puede encontrar como table top o como equipo compacto. El detector de presión ultra variable (UVD) mejora la capacidad de imagen superficial en entornos de bajo vacío.
  • Resolution
4.0nm@20kV (High vacuum)
15.0nm@1kV (High vacuum)
5.0nm@20kV (Low vacuum)

  • Magnification
6x~300,000x (on photo)
16x~800,000x (on display)

  • Accelerating voltage
0.3 kV ~ 20 kV

  • Maximum sample size
6 ~ 100 Pa