TEST

SU3900


Alta Resolución de Imagen
Los microscopios electrónicos de barrido SU3800/SU3900 de Hitachi High-Technologies ofrecen operatividad y capacidad de ampliación. El usuario puede automatizar muchas operaciones. Está equipado con una cámara de muestras multipropósito para acomodar la observación de muestras grandes. Así como pruebas físicas en el interior.
  • Resolution 3.0 nm@30 kV(High vacuum), 4 nm@30 kV(Low vacuum)
  • Magnification 5x ~ 300,000 x (on photo)
  • Accelerating voltage 0.3 kV ~ 30 kV
  • Maximum sample size 200 mmΦ/SU3800 300 mmΦ/SU3900
  • Maximum sample thicness 80 mm thick (WD=10 mm) 130 mm thick (WD=10 mm)
Los VP-SEM SU3800 / SU3900 combinan alta resolución de imagen hasta 3nm y flexibilidad con facilidad de uso permitiendo la adquisición de datos de alta calidad para una amplia gama de aplicaciones.