EBSD en SEM para análisis Cristalográfico Avanzado
Aplicación de la Difracción de Electrones Retrodispersados (EBSD) en Microscopía Electrónica de Barrido (SEM) para el Estudio de Microestructuras Cristalinas
La Difracción de Electrones Retrodispersados (EBSD) es una técnica avanzada utilizada en la microscopía electrónica de barrido (SEM) que permite estudiar las microestructuras cristalinas de los materiales con una precisión excepcional. Mediante el análisis de los patrones generados por electrones retrodispersados, EBSD proporciona información clave sobre la orientación de los granos, las fases presentes y la estructura cristalina del material.
Sección técnica
¿Cómo funciona EBSD en SEM?
Cuando un haz de electrones incide sobre una muestra inclinada en un SEM, parte de esos electrones se difractan en los planos atómicos del cristal, formando patrones de difracción conocidos como «patrones Kikuchi». Estos patrones se recogen mediante una pantalla fluorescente conectada a una cámara CCD de alta sensibilidad, que capta la señal y permite su análisis por software especializado.
La técnica requiere una inclinación significativa de la muestra (normalmente 70°) respecto al haz incidente para maximizar la señal retrodispersada. El procesamiento de imagen incluye la sustracción de fondo y la media de múltiples patrones para mejorar la calidad y claridad de los datos recogidos.
Ventajas de EBSD de CIQTEK
Análisis cristalográfico preciso
Permite identificar la orientación de granos, fases presentes y estructura cristalina con alta resolución.
Integración con imágenes SEM
Combina información cristalográfica con morfología microestructural obtenida mediante imágenes SEM convencionales.
Análisis estadístico de grandes áreas
Facilita la caracterización de zonas extensas con datos estadísticos robustos y fiables.
Flujo de trabajo eficiente
Ofrece procesamiento rápido de datos y requiere una preparación de muestras relativamente sencilla.
Recomendaciones para una medición precisa
Preparar adecuadamente la superficie de la muestra (pulido fino o electropulido).
Ajustar correctamente la inclinación y enfoque.
Utilizar un sistema SEM compatible con cámara CCD sensible y software de análisis EBSD avanzado.
Aplicaciones típicas
- Análisis de texturas cristalinas.
- Estudio de límites de grano y deformación.
- Caracterización de fases.
- Control de calidad en materiales metálicos, cerámicos y semiconductores.
- Investigaciones en geología, metalurgia y ciencia de materiales.
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