HEM 6000
ProveedoresParceiros | CIQTEK |
SectoresSetores | Alimentación-Agua y MedioAmbiente, Automoción-Aeronautica, Energía-Electrónica, Farmaceutico-Cosmetica-Biotecnológia, I+D-Servicios Laboratorio-Docencia, Químico – Metales y Minerales |
Parámetros de MedidaParâmetros de medição | SEM |
Tipos de MuestraTipos de amostra | Sólidos |
- Alta velocidad de adquisición de imágenes: Puede alcanzar una velocidad de adquisición de imágenes de más de 5 veces la de un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo convencional (FESEM).
- Sistema de deflexión de haz de electrones de alta velocidad: Permite una alta resolución en un campo de visión grande, con un máximo de 64 µm x 64 µm a 4 nm por píxel.
- Tecnología de deceleración de la muestra: Reduce el voltaje de aterrizaje de los electrones incidentes, aumentando la eficiencia de captura de electrones de señal.
- Lente objetiva combinada electromagnética y electrostática: Contribuye a una imagen de alta resolución con baja aberración.
- Sistema de filtrado de señales de electrones: Permite la conmutación libre de señales SE/BSE y la mezcla con una proporción ajustable.
- Automatización: Proceso automatizado de carga y descarga de muestras y adquisición de imágenes, lo que mejora la eficiencia del flujo de trabajo.
Estas características hacen que el HEM6000 sea ideal para aplicaciones que requieren imágenes de alta resolución y gran área de manera eficiente y rápida
El microscopio electrónico de barrido de alta velocidad HEM6000 de CIQTEK también cuenta con características avanzadas en cuanto a la eliminación de efectos de reflejos:
- Sistema de deflexión del haz de alta velocidad: Utiliza un sistema completamente electrostático que permite obtener imágenes de alta resolución en campos de visión grandes, con un máximo de 32 µm x 32 µm a 4 nm por píxel
- Tecnología de desaceleración de la muestra: Reduce la tensión de aterrizaje de los electrones incidentes, lo que aumenta la eficiencia en la captura de electrones de señal
- Lente de objetivo combinada electromagnética y electrostática: El campo magnético de la lente de objetivo sumerge la muestra, contribuyendo a obtener imágenes de alta resolución con baja aberración
- Estas características permiten al HEM6000 manejar de manera efectiva los reflejos, mejorando la calidad de las imágenes obtenidas.
Especificaciones técnicas | HEM6000-Semi | HEM6000-Bio | HEM6000-Lite | |
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Óptica de electrones | Resolución | 1,5 nm@1 kV SE | 1,8 nm@1 kV BSE | 1,5 nm@15 kV BSE |
Tensión de aceleración | 0,1 kv~6 kV (modo de desaceleración) | 6 kV~30 kV (modo sin desaceleración) | 6 kV~30 kV | |
Ampliación | 66~1.000.000x | |||
Haz de electrones | Cañón de electrones de emisión de campo Schottky de alto brillo | |||
Tipo de lente objetiva | Lente objetiva combinada electromagnética y electrostática de inmersión | |||
Deflector electrostático | Cinco etapas | Cuatro etapas | Cuatro etapas | |
Sistema de carga de muestras | Sistema de vacío | Sistema de vacío sin aceite totalmente automático | ||
Monitorización de muestras | Cámara de monitorización horizontal de la cámara principal; cámara de monitorización vertical de la cámara de carga de intercambio de muestras | |||
Tamaño máximo de la muestra | 4 pulgadas de diámetro | |||
Tipo de mesa de muestras | Mesa de muestras motorizada de 3 ejes (*plataforma de muestras piezoeléctrica opcional) | |||
Recorrido de la platina de muestras | X; Y: 110 mm; Z: 16 mm | |||
Repetibilidad de la platina de muestras | X:±0,6 μm Y:±0,3 μm | |||
Intercambio de muestras | Totalmente automático | |||
Duración del intercambio de muestras | <15 minutos | |||
Limpieza de la cámara Loadlock | Sistema de limpieza de plasma totalmente automático | |||
Adquisición y procesamiento de imágenes | Tiempo de permanencia | 10 ns/píxel | ||
Velocidad de adquisición | 2*100 M píxel/s | |||
Tamaño de imagen | 16 K*16 K | |||
Detector y accesorios | Detector de electrones retrodispersados retráctil de ángulo bajo | Opcional | Ninguno | Estándar |
Detector de electrones retrodispersados de ángulo bajo montaje inferior | Opcional | Estándar | Ninguno | |
Detector de electrones totales en columna | Estándar | Opcional | Opcional | |
Detector de electrones retrodispersados de alto ángulo en columna | Opcional | Opcional | Opcional | |
Platina piezoeléctrica para muestras | Opcional | Opcional | Opcional | |
Modo FOV grande de alta resolución (SW) | Opcional | Ninguno | Ninguno | |
Sistema de limpieza por plasma de la cámara | Loadlock | Opcional | Opcional | |
Sistema de carga de muestras de 6 pulgadas | Opcional | Opcional | Opcional | |
Plataforma antivibración activa | Opcional | Opcional | Opcional | |
Reducción de ruido Al; cosido de campo de área grande; reconstrucción 3D | Opcional | Opcional | Opcional | |
Interfaz del usuario | Idioma | Inglés | ||
SO | Windows | |||
Navegación | Navegación óptica, navegación por gestos | |||
Función automática | Reconocimiento automático de muestras; selección automática del área de imagen; brillo y contraste automáticos; enfoque automático; estigmatizador automático |