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IESMAT 9 Equipos 9 SEM 3300

SEM 3300

Microscópio electrónico de barrido con filamento de tungsteno

Microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno de próxima generación

El microscopio electrónico de barrido (SEM) CIQTEK SEM3300 incorpora tecnologías avanzadas como la óptica electrónica «Super-Tunnel», detectores de electrones con lente interna y una lente objetivo compuesta electrostática y electromagnética. Gracias a estas innovaciones, el SEM de filamento de tungsteno supera los límites de resolución tradicionales, permitiendo realizar tareas de análisis de bajo voltaje que anteriormente solo eran posibles con SEM de emisión de campo.

  • Resolución mejorada: Supera el límite de resolución tradicional de los SEM de filamento de tungsteno, permitiendo análisis de bajo voltaje que antes solo eran posibles con SEM de emisión de campo
  • Tecnología «Super-Tunnel»: Incorpora óptica de electrones avanzada para mejorar la calidad de imagen
  • Detectores de electrones en-lente: Proporcionan imágenes de alta resolución y mejoran la detección de señales SE y BSE
  • Lente objetiva combinada electromagnética y electrostática: Mejora la resolución y reduce las aberraciones
  • Funciones automáticas: Incluye enfoque automático, corrección automática de astigmatismo y ajuste automático de brillo y contraste
  • Navegación óptica: Utiliza una cámara montada verticalmente para una navegación más intuitiva y precisa de la muestra
  • Seguridad mejorada: Funciones anti-colisión tanto de software como de hardware para proteger el equipo y las muestras
  • Detectores en-lente: Capturan señales SE y BSE, proporcionando información detallada sobre la topografía y la composición de la muestra
  • Tecnología de desaceleración: Mejora la captura de electrones de señal y reduce los reflejos no deseados
Información Técnica
Resolución • 2.5 nm @ 15 kV, SE
• 4 nm @ 3 kV, SE
• 5 nm @ 1 kV, SE
Voltaje de aceleración 0.1 kV ~ 30 kV
Aumento 1 ~ 1.000.000 x
Tipo de plataforma 5 ejes motorizados compatibles con vacío
Cámara Cámaras duales (navegación óptica + monitoreo en la cámara)
Distancia • X: 125 mm
• Longitud: 125 mm
• Z: 50 mm
• T: -10°~ +90°
• R: 360°
Estándar • Detector de electrones en la lente (Inlens)
• Detector Everhart-Thornley (ETD)
Opcional • Detector retráctil de electrones retrodispersados (BSED)
• Espectrómetro de energía dispersiva (EDS / EDX)
• Patrón de difracción de electrones retrodispersados (EBSD)
• Bloqueo de carga para intercambio de muestras
• Trackball y panel de control
Idioma Inglés
Sistema operativo Windows
Navegación Navegación óptica, navegación rápida por gestos, trackball (opcional)
Función automática Brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmador automático

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