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IESMAT 9 Equipos 9 SEM 4000X

SEM 4000X

CIQTEK SEM4000X es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM) estable, versátil, flexible y eficiente , alcanzando una resolución de 1,9 nm a 1 kV

El CIQTEK SEM4000X es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM) que destaca por su estabilidad, versatilidad, flexibilidad y eficiencia. Con una resolución de 1,9 nm a 1,0 kV, aborda con facilidad los desafíos de imágenes de alta resolución para diversos tipos de muestras. Además, puede mejorarse con un modo de desaceleración de ultrahaz para optimizar aún más la resolución a bajo voltaje.

Este microscopio emplea tecnología de detectores múltiples. El detector de electrones en columna (UD) es capaz de detectar señales SE y BSE, proporcionando un rendimiento de alta resolución. Por otro lado, el detector de electrones montado en cámara (LD) incorpora un centelleador de cristal y tubos fotomultiplicadores, ofreciendo mayor sensibilidad y eficiencia, lo que resulta en imágenes estereoscópicas de excelente calidad.

La interfaz gráfica de usuario es intuitiva y fácil de usar, incluyendo funciones de automatización como brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmador automático y alineación automática, permitiendo una captura rápida de imágenes de ultra alta resolución.

  • Alta resolución: Alcanza una resolución de 1.9 nm a 1.0 kV, lo que permite abordar desafíos de imágenes de alta resolución para diversos tipos de muestras
  • Tecnología de multi-detectores: Utiliza un detector de electrones en columna (UD) capaz de detectar señales SE y BSE, proporcionando un rendimiento de alta resolución. Además, el detector de electrones montado en la cámara (LD) incorpora tubos fotomultiplicadores y un cristal centelleador, ofreciendo mayor sensibilidad y eficiencia
  • Modo de desaceleración de ultra haz: Mejora aún más la resolución a bajo voltaje
  • Interfaz gráfica de usuario amigable: Incluye funciones de automatización como brillo y contraste automáticos, autoenfoque, autoestigmatización y alineación automática, permitiendo la captura rápida de imágenes de ultra alta resolución
  • Software avanzado: Permite el análisis cuantitativo de partículas y poros, y es aplicable en campos como la ciencia de materiales, geología y ciencias ambientales. También soporta múltiples formatos de imagen y funciones de post-procesamiento de imágenes
  • Gestión de reflejos: El SEM4000X maneja eficazmente los reflejos mediante el uso de detectores de electrones secundarios (SE) y electrones retrodispersados (BSE). Los detectores SE capturan la topografía de la muestra, mientras que los detectores BSE proporcionan información sobre la composición de la superficie

Estas características hacen del SEM4000X una herramienta versátil y eficiente para aplicaciones que requieren imágenes de alta resolución y análisis

Información Técnica
Resolución • 0,9 nm@30 kV, SE
• 1,2 nm@15 kV, SE
• 1,9 nm@1 kV, SE
• 1,5 nm@1 kV (Ultra deceleración del haz)
• 1 nm@15 kV (Ultra deceleración del haz)
Voltaje de aceleración 0.2 kV ~ 30 kV
Aumento 1 ~ 1.000.000 x
Haz de electrones Cañón de electrones de emisión de campo Schottky de alto brillo
Cámara Cámaras duales (navegación óptica + monitoreo en la cámara)
Distancia • X: 110 mm
• Longitud: 110 mm
• Z: 50 mm
• T: -10°~ +70°
• R: 360°
Estándar • Detector de electrones en lente: UD-BSE/UD-SE
• Detector Everhart-Thornley: LD
Opcional • Detector de electrones retrodispersados (BSED)
• Detector retráctil de microscopía electrónica de transmisión por barrido (STEM)
• Detector de bajo vacío (LVD)
• Espectrómetro de energía dispersiva (EDS / EDX)
• Patrón de difracción de retrodispersión de electrones (EBSD)
• Esclusa de carga de intercambio de muestras (4 pulg./8 pulg.)
• Trackball y panel de control
• Tecnología Ultra Beam Deceleration Mode
Idioma Inglés
Sistema operativo Windows
Navegación Navegación óptica, navegación rápida por gestos, trackball (opcional)
Función automática Brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmador automático

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