SEM 4000X
ProveedoresParceiros | CIQTEK |
SectoresSetores | Alimentación-Agua y MedioAmbiente, Automoción-Aeronautica, Energía-Electrónica, Farmaceutico-Cosmetica-Biotecnológia, I+D-Servicios Laboratorio-Docencia, Químico – Metales y Minerales |
Parámetros de MedidaParâmetros de medição | FE-SEM |
Tipos de MuestraTipos de amostra | Sólidos |
- Alta resolución: Alcanza una resolución de 1.9 nm a 1.0 kV, lo que permite abordar desafíos de imágenes de alta resolución para diversos tipos de muestras
- Tecnología de multi-detectores: Utiliza un detector de electrones en columna (UD) capaz de detectar señales SE y BSE, proporcionando un rendimiento de alta resolución. Además, el detector de electrones montado en la cámara (LD) incorpora tubos fotomultiplicadores y un cristal centelleador, ofreciendo mayor sensibilidad y eficiencia
- Modo de desaceleración de ultra haz: Mejora aún más la resolución a bajo voltaje
- Interfaz gráfica de usuario amigable: Incluye funciones de automatización como brillo y contraste automáticos, autoenfoque, autoestigmatización y alineación automática, permitiendo la captura rápida de imágenes de ultra alta resolución
- Software avanzado: Permite el análisis cuantitativo de partículas y poros, y es aplicable en campos como la ciencia de materiales, geología y ciencias ambientales. También soporta múltiples formatos de imagen y funciones de post-procesamiento de imágenes
- Gestión de reflejos: El SEM4000X maneja eficazmente los reflejos mediante el uso de detectores de electrones secundarios (SE) y electrones retrodispersados (BSE). Los detectores SE capturan la topografía de la muestra, mientras que los detectores BSE proporcionan información sobre la composición de la superficie
Estas características hacen del SEM4000X una herramienta versátil y eficiente para aplicaciones que requieren imágenes de alta resolución y análisis
Información Técnica | |
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Resolución | • 0,9 nm@30 kV, SE • 1,2 nm@15 kV, SE • 1,9 nm@1 kV, SE • 1,5 nm@1 kV (Ultra deceleración del haz) • 1 nm@15 kV (Ultra deceleración del haz) |
Voltaje de aceleración | 0.2 kV ~ 30 kV |
Aumento | 1 ~ 1.000.000 x |
Haz de electrones | Cañón de electrones de emisión de campo Schottky de alto brillo |
Cámara | Cámaras duales (navegación óptica + monitoreo en la cámara) |
Distancia | • X: 110 mm • Longitud: 110 mm • Z: 50 mm • T: -10°~ +70° • R: 360° |
Estándar | • Detector de electrones en lente: UD-BSE/UD-SE • Detector Everhart-Thornley: LD |
Opcional | • Detector de electrones retrodispersados (BSED) • Detector retráctil de microscopía electrónica de transmisión por barrido (STEM) • Detector de bajo vacío (LVD) • Espectrómetro de energía dispersiva (EDS / EDX) • Patrón de difracción de retrodispersión de electrones (EBSD) • Esclusa de carga de intercambio de muestras (4 pulg./8 pulg.) • Trackball y panel de control • Tecnología Ultra Beam Deceleration Mode |
Idioma | Inglés |
Sistema operativo | Windows |
Navegación | Navegación óptica, navegación rápida por gestos, trackball (opcional) |
Función automática | Brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmador automático |