Seleccionar página
IESMAT 9 Equipos 9 SU8700

SU8700

Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo Schottky de ultra alta resolución.

El SU8700 trae una nueva era de microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo Schottky de ultra alta resolución a la línea de Hitachi EM de larga data.

Esta revolucionaria plataforma FE-SEM incorpora imágenes multifacéticas, alta corriente de sonda, automatización, flujos de trabajo eficientes para usuarios de todos los niveles de experiencia y más.

 

Capacidad analítica y de ultra alta resolución

  • El emisor Schottky de Hitachi proporciona imágenes de ultra alta resolución y microanálisis ultrarrápidos con alta corriente de sonda.
  • Su capacidad de formación de imágenes de 0,1 kV sin polarización de etapa amplía el rango de aplicación para muestras sensibles al haz.
  • Hay una multitud de detectores y opciones disponibles para adaptarse mejor a las necesidades de cualquier usuario.
  • Experiencia de usuario mejorada con automatización avanzada
  • La opción de software «»EM Flow Creator»» permite a los usuarios configurar secuencias de operación SEM repetibles.
  • Se pueden ensamblar varias funciones SEM en la ventana de EM Flow Creator mediante un método de arrastrar y soltar y luego guardarlas como una receta para su uso posterior.
  • Una vez que se configura una receta, la recopilación de datos automatizada bajo las condiciones establecidas se puede realizar con alta precisión y repetibilidad.
  • Nuevas funciones de pantalla e interfaz
  • La configuración de dos monitores admite un espacio de trabajo flexible y altamente eficiente.
  • Muestra y guarda 6 señales simultáneamente para adquirir más información en menos tiempo.
  • Adquiera hasta 40 960 x 30 720 píxeles de información de alta resolución.
Aumento Resolución de imagen de electrones secundarios 0,8 nanómetro a 15 kV
0,9 nanómetro a 1 kV
Aumento 20 a 2,000,000x
Pistola de electrones Emisor Schottky
Voltaje de aceleración 0,1 a 30 kV
Voltaje de aterrizaje 0,01 a 7 kV
Corriente de sonda máx. 200 nA
Detectores Detectores estándar Detector superior (UD)
Detector Inferior (LD)
Detectores de opciones Detector medio (MD)
Tipo de semiconductor BSED (PD-BSED)
Detector de presión ultravariable (UVD)
Detector de tallo
Accesorios opcionales Espectrómetro de rayos X de dispersión de energía (EDS)
Detector de difracción de retrodispersión de electrones (EBSD)
Modo de presión variable Rango de vacío 5~300Pa
Etapa del espécimen control de escenario Motor de 5 ejes
Rango móvil
X 0 a 110 mm
Y 0 a 110 mm
Z 1,5 a 40 mm
T -5 a 70°
R 360°
Cámara de muestras Tamaño de muestra máx. φ150 mm

Puedes ver todos los artículos del catálogo de IESMAT aqui

Para obtener más información acerca de este producto