Ted Pella
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AFM Probes Tap300-G – Sondas modo Tapping marca BudgetSensors
Sondas AFM de silicio para modo tapping y no contacto, con punta rotada para una representación más simétrica de las características de la muestra. Compatible con la mayoría de sistemas AFM comerciales.
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AFM/STM Discos metálicos PELCO® recubiertos de oro
Discos de acero inoxidable magnético recubiertos con oro de alta pureza, diseñados como sustratos para microscopía AFM/STM. Alta conductividad y estabilidad térmica. -
Cestas de evaporación con recubrimiento de alúmina
Cestas de tungsteno recubiertas de alúmina para evaporación térmica en vacío. Funcionan con fuentes de baja potencia y permiten evaporar múltiples materiales.
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Discos de Mica V1 máx. calidad – AFM V1 Mica discs Ø10mm – pack 10
Discos de mica de grado más alto V1 de 10mm de diámetro, paquete de 10 unidades. Aplicaciones en microscopía (por ej. AFM).
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Láminas de Mica de máxima calidad – Mica Sheets V1 para AFM
Las láminas “Mica Sheets” calidad V1 son ideales para aplicaciones de microscopía y preparación de muestras, ofreciendo superficies limpias y planas. Espesor de 0.15 a 0.177mm (0.006 – 0.007″)
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Oblea de silicio Ø2″ (diámetro 5 cm) rerecubierta de oro
Wafer u oblea recubierta de una capa de oro de 50nm sobre silicio tipo P <111> de 500µm. Ideal para aplicaciones en nanotecnología y biotecnología.
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Patrón de Magnificación MRS-4 SEM Micrómetro de Etapa (certificado)
Estándar de calibración de alta precisión para SEM, compatible con múltiples técnicas de microscopía y análisis químico. Incluye micrómetro de etapa y patrón geométrico certificado. -
Porta wafers / Wafer Carrier en polipropileno natural y conductivo
Bandejas o “wafer carriers” de laboratorio para el transporte seguro de obleas de silicio, vidrio u otros discos delicados. Fabricadas en polipropileno natural o conductor, disponibles en varios diámetros desde ø2,5 cm hasta ø15 cm. -
Referencias calibración EDS PELCO® XCS en pin stub de Ø 12,7 mm
Estándares compactos y de alta calidad para calibración EDS, diseñados para pruebas rápidas in situ. Incluyen elementos puros y compuestos montados en pines de 12,7 mm, ideales para verificar rendimiento, resolución y respuesta espectral.
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Rejilla de prueba TG3D-3000/20 para calibración en Direcciones X, Y y Z
Estructura tridimensional, esta rejilla está diseñada para la calibración simultánea en las direcciones X, Y y Z, así como para la calibración lateral de escáneres SPM y la detección de cualquier no linealidad lateral, histéresis, deformación y efectos de acoplamiento cruzado.
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Soporte “carrier” para obleas/wafer de Ø2″ x 50 mm (pack de 10)
Porta o soporte para transportar obleas / waffers de silicio o similares de tamaño Ø2″x 50 mm.
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Soporte de muestra para AFM, acero inoxidable, compatible con Veeco/Bruker
Soporte de muestra circular para microscopía de fuerza atómica (AFM), fabricado en acero inoxidable. Compatible con sistemas Veeco/Bruker y otros equipos AFM estándar.
