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Soporte “carrier” para obleas/wafer de Ø2″ x 50 mm (pack de 10)
Porta o soporte para transportar obleas / waffers de silicio o similares de tamaño Ø2″x 50 mm.
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Soporte de muestra para AFM, acero inoxidable, compatible con Veeco/Bruker
Soporte de muestra circular para microscopía de fuerza atómica (AFM), fabricado en acero inoxidable. Compatible con sistemas Veeco/Bruker y otros equipos AFM estándar.
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Ventanas de zafiro circulares (Al₂O₃) para óptica y láser
Zafiro monocristalino de alta pureza, disponible en varios diámetros y grosores. Ideal para aplicaciones en óptica, láser, espectroscopía y entornos extremos. -
Wafer sustrato cristalino monocapa de dióxido de silicio fundido (SiO₂)
Oblea (SiO₂) de alta pureza, ideal para aplicaciones en microscopía, deposición de películas delgadas y caracterización de materiales. Presentación en formato individual. -
Wafers de silicio de alta pureza – varios diámetros y formatos
Wafers de silicio de alta pureza disponibles en varios diámetros, ideales para investigación en películas delgadas, semiconductores y aplicaciones avanzadas. Disponibles en versiones estándar y ultra-planas, con o sin recubrimientos.
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Ø100 mm obleas de silicio con óxido térmico SiO₂ – 300 nm
Solicitar presupuesto. Obleas de silicio monocristalino recubierta con una capa de óxido térmico de SiO₂ de 300 nm. Ideal para procesos de deposición, caracterización superficial y microfabricación. -
Ø3″ Oblea LiNbO3 niobato de litio dopada con óxido de magnesio
Solicitar presupuesto. (LiNbO₃) Wafer dopado con MgO, corte Z, doble cara pulida. Ideal para aplicaciones en óptica no lineal, fotónica y caracterización láser.
