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Adaptador de Pin Stub para microscopios Hitachi – M4 15×10 mm
Adaptador de pin stubs tamaño 15 x 10 mm con rosca M4 en un lado.
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Adaptador de pin stubs para microscopios JEOL – cilindro Ø 12.2 mm
Adaptador de montaje de pin para cilindro JEOL de 12.2 mm. Permite usar montajes de pin estándar en microscopios JEOL
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AGAR Leit Carbon Tabs – pestañas adhesivas conductoras varios Ø
Pegatinas adhesivas de carbono Leit Carbon tabs, ligeramente de mayor grosor que las pestañas carbon tab standard. Conductividad eléctrica ideal para análisis SEM.
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Bulk Specimen Holder – sujeta-muestras irregulares ⌀32 mm
Montamuestras diseñado para sujetar de manera segura fragmentos grandes o de formas irregulares o incómodas para su análisis en el microscopio electrónico de barrido (SEM).
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Caja de almacenamiento hasta 18 Pin Stubs de SEM – PELCO®
PELCO® Caja de almacenamiento para 18 porta-muestras pin stub SEM ø3,2mm -
Cinta conductiva Aluminio Conductive Tape PELCO – 3M™
Aluminio. ideal para aplicaciones de microscopía electrónica de barrido (SEM) y espectroscopía de dispersión de energía de rayos X (EDS)
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Discos conductivos de carbono formato rollo – Ø12.5mm x 250
Tabs adhesivos de carbono conductivo de Ø12.5mm en formato rollo para SEM (250 uds por rollo). Alta transparencia para EDS y baja presencia de níquel y cobre.
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Filamentos de tungsteno Cambridge, LEO, Zeiss y AEI (caja de 10)
Filamentos de tungsteno de alta calidad para microscopios electrónicos Cambridge, LEO, Zeiss y AEI, caja de 10 unidades.
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Filamentos de tungsteno microscopio Tescan (pack de 10 uds)
Filamentos de tungsteno de alta calidad para microscopios electrónicos Tescan (serie VEGA), caja de 10 unidades.
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K-kit análisis de líquidos para TEM – Canal microfluídico sellable
Portamuestras desechable con microcanal interno para análisis de líquidos en microscopía electrónica de transmisión (TEM). Compatible con portamuestras estándar de 3 mm. -
Lowprofile 45/90º SEM Mount – montamuestras de aluminio
Montamuestras inclinado 45/90º aluminio
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MAG*I*CAL® estándar de referencia de magnificación para TEM
Patrón de calibración trazable para microscopía electrónica de transmisión (TEM) que permite calibrar toda la gama de aumentos (≈1.000× a 1.000.000×), el constante de cámara y la rotación imagen/difracción, basado en un monocristal de silicio con capas Si/SiGe de espesores conocidos.
