No encuentras un producto en la web? Lo tenemos.
Pídenoslo al solicitar tu presupuesto. Trabajamos con todo el catálogo y referencias de nuestros fabricantes.
Inicia sesión para ver precios y solicitar tu presupuesto.
¿Nuevo por aquí? Crea tu cuenta en segundos.
-
MAG*I*CAL® estándar de referencia de magnificación para TEM
Patrón de calibración trazable para microscopía electrónica de transmisión (TEM) que permite calibrar toda la gama de aumentos (≈1.000× a 1.000.000×), el constante de cámara y la rotación imagen/difracción, basado en un monocristal de silicio con capas Si/SiGe de espesores conocidos. -
Patrón de Magnificación MRS-4 SEM Micrómetro de Etapa (certificado)
Estándar de calibración de alta precisión para SEM, compatible con múltiples técnicas de microscopía y análisis químico. Incluye micrómetro de etapa y patrón geométrico certificado. -
K-kit análisis de líquidos para TEM – Canal microfluídico sellable
Portamuestras desechable con microcanal interno para análisis de líquidos en microscopía electrónica de transmisión (TEM). Compatible con portamuestras estándar de 3 mm. -
Cathode LaB6 Kimball cátodo ES423E-60/6 cono 60° microflat 6 µm
Cátodo de hexaboruro de lantano (LaB₆) de alta resolución y alto brillo, diseñado para microscopios electrónicos de transmisión (TEM). Geometría de cono de 60° con microplano de 6 µm. -
Pin de montaje SEM para Hitachi, aluminio Ø 15 mm x 6.35 mm
Pin de montaje de aluminio diseñado específicamente para sistemas SEM Hitachi. Proporciona una base estable y conductiva para la colocación de muestras en microscopía electrónica de barrido.
-
Portamuestras SEM para EBSD, 70° inclinación, Ø 32 mm x 6.35 mm
Pin de montaje para SEM diseñado específicamente para análisis EBSD, con inclinación de 70° y diámetro de 32 mm. Fabricado en aluminio, optimizado para difracción de electrones retrodispersados.
-
Cinta de cobre conductiva para SEM, doble cara, 12 mm x 5 m
Cinta adhesiva de cobre de doble cara, altamente conductiva, ideal para fijar muestras en microscopía electrónica de barrido (SEM) y espectroscopía EDS. Excelente adherencia y disipación de carga.
-
Caja de almacenamiento hasta 18 Pin Stubs de SEM – PELCO®
PELCO® Caja de almacenamiento para 18 porta-muestras pin stub SEM ø3,2mm -
Portamuestras metalográfico para montajes de Ø30–32 mm con M4
Soporte de aluminio para montajes metalográficos circulares de 30–32 mm. Incluye tornillos de acero inoxidable y llave Allen. Compatible con adaptadores de etapa tipo cola de milano. -
Pin stubs doble ángulo 45º/ 90º Ø12,7 mm para FEI, TESCAN, ZEISS, LEO
Portamuestras aluminio pin stub de 12 mm de diámetro, para microscopía electrónica de barrido (SEM), compatible con equipos FEI, TESCAN, ZEISS, Philips, Leica y otros. Diseño con doble ángulo de observación: 45º y 90º.
-
Portamuestras múltiple montajes metalográficos Ø38–40mm Hitachi
Soporte de aluminio mecanizado para tres montajes metalográficos circulares de 38–40 mm de diámetro. Incluye tornillos de acero inoxidable y llave Allen. Ideal para laboratorios de metalografía y análisis de materiales. -
Cinta de cobre 3M™ conductiva con adhesivo de doble cara
Cinta metálica de cobre con adhesivo conductivo en ambas caras, diseñada para aplicaciones científicas que requieren fijación precisa y conductividad eléctrica. Especialmente útil en microscopía electrónica de barrido (SEM).
