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Patrón de Magnificación MRS-4 SEM Micrómetro de Etapa (certificado)
Estándar de calibración de alta precisión para SEM, compatible con múltiples técnicas de microscopía y análisis químico. Incluye micrómetro de etapa y patrón geométrico certificado. -
MAG*I*CAL® estándar de referencia de magnificación para TEM
Patrón de calibración trazable para microscopía electrónica de transmisión (TEM) que permite calibrar toda la gama de aumentos (≈1.000× a 1.000.000×), el constante de cámara y la rotación imagen/difracción, basado en un monocristal de silicio con capas Si/SiGe de espesores conocidos. -
Filamentos Hitachi para microscopios de tipo SEM Tabletop
Filamentos Hitachi para microscopios SEM Tabletop
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Referencias calibración EDS PELCO® XCS en pin stub de Ø 12,7 mm
Estándares compactos y de alta calidad para calibración EDS, diseñados para pruebas rápidas in situ. Incluyen elementos puros y compuestos montados en pines de 12,7 mm, ideales para verificar rendimiento, resolución y respuesta espectral.
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Cathode LaB6 Kimball cátodo ES423E-90/20 cono 90° microflat 20µm
Cátodo de hexaboruro de lantano (LaB₆) de alta resolución y brillo, con microflat de 6 µm y cono de 60°, diseñado para microscopios electrónicos de transmisión (TEM). Compatible con múltiples bases de fabricantes. -
Cathode LaB6 Kimball cátodo ES423E-60/6 cono 60° microflat 6 µm
Cátodo de hexaboruro de lantano (LaB₆) de alta resolución y alto brillo, diseñado para microscopios electrónicos de transmisión (TEM). Geometría de cono de 60° con microplano de 6 µm. -
K-kit análisis de líquidos para TEM – Canal microfluídico sellable
Portamuestras desechable con microcanal interno para análisis de líquidos en microscopía electrónica de transmisión (TEM). Compatible con portamuestras estándar de 3 mm. -
Pin stubs ⌀12,7mm x 8mm/6mm – Compatible mayoría microscopios
Montamuestras – pin stubs univesales ⌀12,7mm aluminio, con ranura para pinzas, compatibles con las principales marcas de microscopía electrónica del mercado. Altura de 6 u 8 mm.
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Cinta de cobre conductiva para SEM, doble cara, 12 mm x 5 m
Cinta adhesiva de cobre de doble cara, altamente conductiva, ideal para fijar muestras en microscopía electrónica de barrido (SEM) y espectroscopía EDS. Excelente adherencia y disipación de carga.
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Filamentos de tungsteno microscopio Tescan (pack de 10 uds)
Filamentos de tungsteno de alta calidad para microscopios electrónicos Tescan (serie VEGA), caja de 10 unidades.
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Muestra para calibración microscopio SEM de estaño sobre carbono
Especimen estaño sobre carbono para alineacion de columnas, corregir astigmatismo y verificar resolucion. Partículas de <5 nm a 30 µm.
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Finder SEM Grids – rejillas localización muestra pin stubs
Rejillas de búsqueda para SEM. Ayudan a identificar y localizar áreas de interés en una muestra para realizar análisis detallados.
