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Muestra para calibración microscopio SEM de estaño sobre carbono
Especimen estaño sobre carbono para alineacion de columnas, corregir astigmatismo y verificar resolucion. Partículas de <5 nm a 30 µm.
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Patrón de Magnificación MRS-4 SEM Micrómetro de Etapa (certificado)
Estándar de calibración de alta precisión para SEM, compatible con múltiples técnicas de microscopía y análisis químico. Incluye micrómetro de etapa y patrón geométrico certificado. -
Pelco SEMClip™ Pin stubs con clips para sujeción muestras
Pin stubs de aluminio con sistema de fijación mecánica (clips) para muestras delgadas en microscopía electrónica de barrido. Disponible en versiones estándar (8 mm) y de pin corto (6 mm) para ZEISS/LEO. Versión de diferente diámetro y con hasta 8 clips.
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Pestañas conductivas carbono PELCO™ Image Tabs 260 µm doble cara
Pestañas adhesivas conductivas PELCO Image Tabs™ de 260 µm, ideales como fondo fotográfico en SEM. Doble cara, reposicionables y con excelente estabilidad bajo recubrimiento metálico.
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Pestañas conductivas Pelco Carbon Conductive Tabs de doble cara
Las PELCO Tabs™ consisten en una oblea de fibra de carbono impregnada con adhesivo acrílico que contiene carbono. No tienen película interna.
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Pin de montaje SEM para Hitachi, aluminio Ø 15 mm x 6.35 mm
Pin de montaje de aluminio diseñado específicamente para sistemas SEM Hitachi. Proporciona una base estable y conductiva para la colocación de muestras en microscopía electrónica de barrido.
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Pin stub especial de doble montura 90º Ø25 mm – unidad
Montura doble de 90º para SEM de Ø25 mm, fabricada en aluminio con borde ranurado. Disponible con pin de 9,5 mm o 6 mm, compatible con equipos FEI, ZEISS, TESCAN y otros.
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Pin stub montamuestras con sujeción micro-vise 1/8″ (3,2 mm)
Micro tornillo de banco compatible con soporte de pin stub.
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Pin stubs doble ángulo 45º/ 90º Ø12,7 mm para FEI, TESCAN, ZEISS, LEO
Portamuestras aluminio pin stub de 12 mm de diámetro, para microscopía electrónica de barrido (SEM), compatible con equipos FEI, TESCAN, ZEISS, Philips, Leica y otros. Diseño con doble ángulo de observación: 45º y 90º.
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Pin stubs Ø18mm ranurados: Zeiss/Leo FIB, FIB-SEM, FESEM
Montamuestras pin stubs de aluminio Ø18 mm compatibles con equipos Zeiss/LEO SEM, FE-SEM y FIB-SEM. Disponibles en alturas de 6 y 8 mm. Borde ranurado.
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Pin stubs Ø25x8mm aptos LEO/Cambridge FEI/Philips Tescam ZEISS
Montamuestras aluminio 25 mm x 8 mm. 50 uds.
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Pin stubs ⌀12,7mm x 8mm/6mm – Compatible mayoría microscopios
Montamuestras – pin stubs univesales ⌀12,7mm aluminio, con ranura para pinzas, compatibles con las principales marcas de microscopía electrónica del mercado. Altura de 6 u 8 mm.
