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Pin stubs ⌀12,7mm x 8mm/6mm – Compatible mayoría microscopios
Montamuestras – pin stubs univesales ⌀12,7mm aluminio, con ranura para pinzas, compatibles con las principales marcas de microscopía electrónica del mercado. Altura de 6 u 8 mm.
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Planotec P47 – Disco de centelleo Ø8.8 x 2 mm sin recubrir
Proporciona una alta señal de salida y una excelente vida útil en SEM. Compatible con JEOL JSM T20, T200, T300, 35CF, 800 series
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Portamuestras metalográfico para montajes de Ø30–32 mm con M4
Soporte de aluminio para montajes metalográficos circulares de 30–32 mm. Incluye tornillos de acero inoxidable y llave Allen. Compatible con adaptadores de etapa tipo cola de milano. -
Portamuestras múltiple montajes metalográficos Ø38–40mm Hitachi
Soporte de aluminio mecanizado para tres montajes metalográficos circulares de 38–40 mm de diámetro. Incluye tornillos de acero inoxidable y llave Allen. Ideal para laboratorios de metalografía y análisis de materiales. -
Portamuestras SEM para EBSD, 70° inclinación, Ø 32 mm x 6.35 mm
Pin de montaje para SEM diseñado específicamente para análisis EBSD, con inclinación de 70° y diámetro de 32 mm. Fabricado en aluminio, optimizado para difracción de electrones retrodispersados.
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Referencias calibración EDS PELCO® XCS en pin stub de Ø 12,7 mm
Estándares compactos y de alta calidad para calibración EDS, diseñados para pruebas rápidas in situ. Incluyen elementos puros y compuestos montados en pines de 12,7 mm, ideales para verificar rendimiento, resolución y respuesta espectral.
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Rollo cinta conductiva Poly-carbonate Conductive Tape PELCO
Cinta adhesiva conductiva de doble cara con base de policarbonato y adhesivo acrílico cargado con carbono. Ideal para montaje de muestras en microscopía electrónica. Disponible en varios anchos y formatos.
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Soporte monta muestras SEM – ESBS inclinación 70º Ø25mm
Inclinación de 70° para pin stubs o montamuestras de 25 mm, compatible con el microscopio M4. Ideal para análisis EBSD en microscopía electrónica de barrido (SEM).
