Pin Stubs y soporte de muestras
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Adaptador de Pin Stub para microscopios Hitachi – M4 15×10 mm
Adaptador de pin stubs tamaño 15 x 10 mm con rosca M4 en un lado.
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Adaptador de pin stubs para microscopios JEOL – cilindro Ø 12.2 mm
Adaptador de montaje de pin para cilindro JEOL de 12.2 mm. Permite usar montajes de pin estándar en microscopios JEOL
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Adaptador Low Profile Hitachi M4 a pin stub para SEM Phenom
Adaptador de aluminio que convierte monta-muestras Hitachi con rosca M4 en formato pin stub estándar de 1/8″ (9,5 mm), compatible con SEM de sobremesa Phenom y otros microscopios similares. -
Cajas PELCO® almacenamiento de hasta 18 Pin Stubs SEM
PELCO® Caja de almacenamiento para hasta 18 porta-muestras pin stub SEM ø3,2mm dependiendo de su tamaño. -
Chips de silicio para soporte de muestras en SEM (low profile)
Soportes para muestras en silicio precortado en chips, ideales para microscopía electrónica de barrido (SEM) por su baja señal de fondo, superficie lisa y excelente compatibilidad con células y nanopartículas. -
EBSD monta muestras Hitachi 70º Ø15×12 mm rosca M4 sin pin
Este tipo de soporte se utiliza en microscopios electrónicos de barrido (SEM) de Hitachi, para análisis de difracción de electrones retrodispersados (EBSD).
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Lowprofile 45/90º SEM Mount – montamuestras de aluminio
Montamuestras inclinado 45/90º aluminio
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Monta muestras Pin Stub ⌀0,5″ / 12,5 mm – permite grabar código
Porta muestras serializados para SEM (paquete de 50 unidades grabadas con máximo 8 dígitos) – ⌀12,5 mm.
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Montamuestras – Pin stubs Hitachi Ø25mm M4 (pack de 50 uds)
Compatibles con instrumentación Hitachi. Aluminio. Diámetro de 25mm y altura de 6mm.
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Montamuestras dividido para muestras delgadas en pin stub Ø12.7 mm
Soporte dividido para muestras delgadas en pin stub de 12.7 mm de diámetro. Ideal para análisis de textiles, plantas, papel, plásticos y metales en sección transversal.
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Montamuestras Pin stubs Ø25.4mm x pin 9.5 mm ranurados
Montamuestras SEM de aluminio con borde ranurado, diámetro 25,4 mm y pin de 9,5 mm de altura. Compatibles con FEI, ZEISS, TESCAN y otros SEM líderes.
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Pelco SEMClip – Pin stubs y clindros bajos con clips sujeción muestras
Montajes SEMClip™ de perfil bajo (cortos en altura entre 6 y 10 mm) para microscopía electrónica, diseñados para alta inclinación y distancias de trabajo cortas. Ideales para sujetar chips de silicio y muestras planas.
