Pin Stubs y soporte de muestras
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Pin de montaje SEM para Hitachi, aluminio Ø 15 mm x 6.35 mm
Pin de montaje de aluminio diseñado específicamente para sistemas SEM Hitachi. Proporciona una base estable y conductiva para la colocación de muestras en microscopía electrónica de barrido.
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Portamuestras SEM para EBSD, 70° inclinación, Ø 32 mm x 6.35 mm
Pin de montaje para SEM diseñado específicamente para análisis EBSD, con inclinación de 70° y diámetro de 32 mm. Fabricado en aluminio, optimizado para difracción de electrones retrodispersados.
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Caja de almacenamiento hasta 18 Pin Stubs de SEM – PELCO®
PELCO® Caja de almacenamiento para 18 porta-muestras pin stub SEM ø3,2mm -
Portamuestras metalográfico para montajes de Ø30–32 mm con M4
Soporte de aluminio para montajes metalográficos circulares de 30–32 mm. Incluye tornillos de acero inoxidable y llave Allen. Compatible con adaptadores de etapa tipo cola de milano. -
Pin stubs doble ángulo 45º/ 90º Ø12,7 mm para FEI, TESCAN, ZEISS, LEO
Portamuestras aluminio pin stub de 12 mm de diámetro, para microscopía electrónica de barrido (SEM), compatible con equipos FEI, TESCAN, ZEISS, Philips, Leica y otros. Diseño con doble ángulo de observación: 45º y 90º.
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Portamuestras múltiple montajes metalográficos Ø38–40mm Hitachi
Soporte de aluminio mecanizado para tres montajes metalográficos circulares de 38–40 mm de diámetro. Incluye tornillos de acero inoxidable y llave Allen. Ideal para laboratorios de metalografía y análisis de materiales. -
Pelco SEMClip™ Pin stubs con clips para sujeción muestras
Pin stubs de aluminio con sistema de fijación mecánica (clips) para muestras delgadas en microscopía electrónica de barrido. Disponible en versiones estándar (8 mm) y de pin corto (6 mm) para ZEISS/LEO. Versión de diferente diámetro y con hasta 8 clips.
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Chips de silicio para soporte de muestras en SEM (low profile)
Soportes para muestras en silicio precortado en chips, ideales para microscopía electrónica de barrido (SEM) por su baja señal de fondo, superficie lisa y excelente compatibilidad con células y nanopartículas. -
Adaptador Low Profile Hitachi M4 a pin stub para SEM Phenom
Adaptador de aluminio que convierte monta-muestras Hitachi con rosca M4 en formato pin stub estándar de 1/8″ (9,5 mm), compatible con SEM de sobremesa Phenom y otros microscopios similares. -
Monta muestras Pin Stub ⌀0,5″ / 12,5 mm – permite grabar código
Porta muestras serializados para SEM (paquete de 50 unidades grabadas con máximo 8 dígitos) – ⌀12,5 mm.
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EBSD monta muestras Hitachi 70º Ø15×12 mm rosca M4 sin pin
Este tipo de soporte se utiliza en microscopios electrónicos de barrido (SEM) de Hitachi, para análisis de difracción de electrones retrodispersados (EBSD).
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Adaptador de pin stubs para microscopios JEOL – cilindro Ø 12.2 mm
Adaptador de montaje de pin para cilindro JEOL de 12.2 mm. Permite usar montajes de pin estándar en microscopios JEOL
