Pin Stubs y soporte de muestras
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Pin stub especial de doble montura 90º Ø25 mm – unidad
Montura doble de 90º para SEM de Ø25 mm, fabricada en aluminio con borde ranurado. Disponible con pin de 9,5 mm o 6 mm, compatible con equipos FEI, ZEISS, TESCAN y otros.
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Pin stub montamuestras con sujeción micro-vise 1/8″ (3,2 mm)
Micro tornillo de banco compatible con soporte de pin stub.
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Pin stubs doble ángulo 45º/ 90º Ø12,7 mm para FEI, TESCAN, ZEISS, LEO
Portamuestras aluminio pin stub de 12 mm de diámetro, para microscopía electrónica de barrido (SEM), compatible con equipos FEI, TESCAN, ZEISS, Philips, Leica y otros. Diseño con doble ángulo de observación: 45º y 90º.
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Pin stubs Ø18mm ranurados: Zeiss/Leo FIB, FIB-SEM, FESEM
Montamuestras pin stubs de aluminio Ø18 mm compatibles con equipos Zeiss/LEO SEM, FE-SEM y FIB-SEM. Disponibles en alturas de 6 y 8 mm. Borde ranurado.
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Pin stubs Ø25x8mm aptos LEO/Cambridge FEI/Philips Tescam ZEISS
Montamuestras aluminio 25 mm x 8 mm. 50 uds.
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Pin stubs ⌀12,7mm x 8mm/6mm – Compatible mayoría microscopios
Montamuestras – pin stubs univesales ⌀12,7mm aluminio, con ranura para pinzas, compatibles con las principales marcas de microscopía electrónica del mercado. Altura de 6 u 8 mm.
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Portamuestras metalográfico para montajes de Ø30–32 mm con M4
Soporte de aluminio para montajes metalográficos circulares de 30–32 mm. Incluye tornillos de acero inoxidable y llave Allen. Compatible con adaptadores de etapa tipo cola de milano. -
Portamuestras múltiple montajes metalográficos Ø38–40mm Hitachi
Soporte de aluminio mecanizado para tres montajes metalográficos circulares de 38–40 mm de diámetro. Incluye tornillos de acero inoxidable y llave Allen. Ideal para laboratorios de metalografía y análisis de materiales. -
Portamuestras SEM para EBSD, 70° inclinación, Ø 32 mm x 6.35 mm
Pin de montaje para SEM diseñado específicamente para análisis EBSD, con inclinación de 70° y diámetro de 32 mm. Fabricado en aluminio, optimizado para difracción de electrones retrodispersados.
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Soporte monta muestras SEM – ESBS inclinación 70º Ø25mm
Inclinación de 70° para pin stubs o montamuestras de 25 mm, compatible con el microscopio M4. Ideal para análisis EBSD en microscopía electrónica de barrido (SEM).
