No encuentras un producto en la web? Lo tenemos.
Pídenoslo al solicitar tu presupuesto. Trabajamos con todo el catálogo y referencias de nuestros fabricantes.
Inicia sesión para ver precios y solicitar tu presupuesto.
¿Nuevo por aquí? Crea tu cuenta en segundos.
-
Holey Carbon – rejillas TEM de cobre con carbon perforado
Películas de carbono perforado sobre rejillas de cobre, diseñadas para soportar muestras en microscopía electrónica de transmisión. Reducen el ruido de fondo y mejoran la calidad de imagen. -
Holey Carbon grids on copper – rejillas TEM cobre perforadas
Rejilla TEM con película ultrafina continua sobre soporte lacey de carbono. Ideal para observar nanotubos, virus y partículas finas con mínima interferencia del soporte.
-
K-kit análisis de líquidos para TEM – Canal microfluídico sellable
Portamuestras desechable con microcanal interno para análisis de líquidos en microscopía electrónica de transmisión (TEM). Compatible con portamuestras estándar de 3 mm. -
LaB6 Denka M-3 cátodo para JEOL punta estándar 90°-15µm
Cátodo Denka M-3 de hexaboruro de lantano (LaB6) con punta estándar de 90° y radio de 15 µm. Compatible con bases tipo K para microscopios electrónicos JEOL. -
Lacey Carbon grids on copper – rejillas TEM carbono / cobre
Grillas recubiertas por un film o lámina de carbono Lacey en cobre de diferentes mallas, ideales para estudios de nanotubos, cristales aciculares y especímenes biológicos o materiales.
-
Membranas de nitruro de silicio para TEM, 8–200 nm múltiples ventanas
Soportes de nitruro de silicio ultra-baja tensión para TEM, fabricados con tecnología MEMS. Disponibles en espesores de 8 a 200 nm y varias configuraciones de ventana, ideales para aplicaciones de nanotecnología y biología molecular. -
Membranas soporte de nitruro de silicio PELCO® hidrofílicas e hidrofóbicas
Membranas de nitruro de silicio modificadas por ALD para aplicaciones TEM, disponibles en versiones hidrofílicas e hidrofóbicas. Ofrecen control de energía superficial y compatibilidad total con portagrids estándar.
-
PELCO® bloques porta-rejillas TEM con capacidad 25 y 81 grids
Bloques de aluminio grado vacío para sujetar rejillas TEM durante procesos de limpieza por descarga luminosa o recubrimiento en sistemas de alto vacío. Disponibles en versiones para 25 y 81 rejillas.
-
PELCO® Membrana perforada holey nitruro silicio 200 nm Ø3mm
Soporte perforado de nitruro de silicio para TEM con membrana de 200 nm y ventana de 0,5 × 0,5 mm. Disponible en 12 tamaños de poro (100 nm a 5 µm) para experimentos avanzados en nanotecnología.
-
PELCO® TEM Grid Storage Box – cajita para 50 rejillas TEM
Para guardar hasta 50 rejillas estándar de microscopía electrónica de transmisión (TEM) de 3.05 mm de diámetro
-
Placa de vidrio para pulido – PELCO Tripod Polisher 8″ x 0,25″
Placa de vidrio de alta calidad para procesos de pulido y preparación de muestras. Compatible con sistemas PELCO Tripod Polisher. -
Pulidor de trípode PELCO Tripod Polisher – para muestras TEM y SEM
Sistema de pulido manual de alta precisión diseñado para la preparación de muestras TEM y SEM mediante desbaste controlado. Permite obtener secciones extremadamente delgadas y cuñas perfectas con una exactitud micrométrica inigualable en ciencia de materiales.
