Ted Pella
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Pelco Holey Silicon – Film soporte de nitruro de silicio perforado-
Película soporte de nitruro de silicio amorfo con patrón de poros, ideal para aplicaciones avanzadas de microscopía electrónica de transmisión (TEM) y análisis de partículas a escala nanométrica. -
Rejillas TEM con película de soporte carbon, formvar o ambas
Rejillas TEM con películas de soporte con diferentes combinaciones.
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Rejillas TEM con pestaña y marca central – Pelco marked grids
Rejillas TEM más gruesas y rígidas que las tradicionales, facilitando su manipulación sin riesgo de doblarse. Disponibles en varios estilos y materiales, son ideales para diversas aplicaciones en microscopía electrónica. Vienen marcadas en el centro y dispone de una pestaña para sujetarlas con la pinza.
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Rejillas TEM PELCO® FIB Lift-Out para extracción in-situ Ø 3 mm
Grillas TEM diseñadas para la extracción in-situ de láminas (lamella) mediante sistemas SEM/FIB. Compatibles con portamuestras estándar, ofrecen visibilidad total y alta precisión en el posicionamiento.
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Rejillas TEM PELCO® FIB Lift-Out para extracción in-situ Ø 3 mm
Grillas TEM diseñadas para la extracción in-situ de láminas (lamella) mediante sistemas SEM/FIB. Compatibles con portamuestras estándar, ofrecen visibilidad total y alta precisión en el posicionamiento.
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Sustrato de nitruro de silicio TEM – Silicon Nitride Support Film
Las PELCO® Silicon Nitride Support Films son películas de soporte de nitruro de silicio para TEM. Robustas y estables, temperaturas de hasta 1000°C. Formato: paquetes de 10, 100 ó 1 unidad.
