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Patrón de Magnificación MRS-4 SEM Micrómetro de Etapa (certificado)
Estándar de calibración de alta precisión para SEM, compatible con múltiples técnicas de microscopía y análisis químico. Incluye micrómetro de etapa y patrón geométrico certificado. -
Quantifoil® película Holey Carbon Film – Rejillas TEM ortogonales
Rejillas TEM con película de carbono perforada patentada por Quantifoil®, ideales para visualización precisa y automatización en microscopía electrónica. Disponibles en múltiples geometrías y materiales.
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Cathode LaB6 Kimball cátodo ES423E-60/6 cono 60° microflat 6 µm
Cátodo de hexaboruro de lantano (LaB₆) de alta resolución y alto brillo, diseñado para microscopios electrónicos de transmisión (TEM). Geometría de cono de 60° con microplano de 6 µm. -
Cátodos de hexaboruro de lantano (LaB6) Kimball Physics
Cátodos de alto rendimiento para microscopía electrónica de barrido y transmisión. Ofrecen mayor brillo, menor dispersión de energía y una vida útil extendida en comparación con filamentos de tungsteno.
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Filamentos Hitachi para microscopios de tipo SEM Tabletop
Filamentos Hitachi para microscopios SEM Tabletop
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SVM Ø100 wafers silicio con óxido térmico SiO₂ – 300 nm (Pack x25 obleas)
Sustratos de silicio monocristalino de alta pureza tipo P (Boro), con orientación <100> y recubrimiento de óxido térmico. Diseñados para procesos de microfabricación, fotolitografía y aplicaciones de semiconductores en salas blancas ISO 3. Pack de 25 obleas. La imagen es una recreación generada digitalmente. El color y brillo de los wafers reales podrían diferir ligeramente.
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Referencias calibración EDS PELCO® XCS en pin stub de Ø 12,7 mm
Estándares compactos y de alta calidad para calibración EDS, diseñados para pruebas rápidas in situ. Incluyen elementos puros y compuestos montados en pines de 12,7 mm, ideales para verificar rendimiento, resolución y respuesta espectral.
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LaB6 Denka M-3 cátodo para JEOL punta estándar 90°-15µm
Cátodo Denka M-3 de hexaboruro de lantano (LaB6) con punta estándar de 90° y radio de 15 µm. Compatible con bases tipo K para microscopios electrónicos JEOL. -
AFM Tap300-G Probes – Sondas modo Tapping no contacto
Sondas AFM de silicio para modo tapping y no contacto, con punta rotada para una representación más simétrica de las características de la muestra. Compatible con la mayoría de sistemas AFM comerciales.
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K-kit análisis de líquidos para TEM – Canal microfluídico sellable
Portamuestras desechable con microcanal interno para análisis de líquidos en microscopía electrónica de transmisión (TEM). Compatible con portamuestras estándar de 3 mm. -
Rejillas Quantifoil R 2/2 película de carbono y patrón ortogonal
Sustratos de soporte de alta precisión para TEM con orificios de 2.0 µm y separación de 2.0 µm. Ideales para la estabilización de muestras y la automatización en criomicroscopía electrónica.
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Standard Rolls Royce Alloy + Co montado en pin stub latón Ø32mm
Patrón de referencia certificado y aprobado por Rolls-Royce para microanálisis de alta precisión. Compuesto por aleación Al-9014 con insertos de Cobalto, diseñado para cumplir con los estrictos protocolos de validación de la industria aeroespacial.
