Consumibles AFM - SPM - Raman
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AFM Tap300-G Probes – Sondas modo Tapping no contacto
Sondas AFM de silicio para modo tapping y no contacto, con punta rotada para una representación más simétrica de las características de la muestra. Compatible con la mayoría de sistemas AFM comerciales.
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AFM/STM Discos metálicos PELCO® recubiertos de oro
Discos de acero inoxidable magnético recubiertos con oro de alta pureza, diseñados como sustratos para microscopía AFM/STM. Alta conductividad y estabilidad térmica. -
Cajas almacenamiento PELCO® Discos AFM/STM con base magnética
Caja protectora diseñada para el almacenamiento seguro de obleas. Ideal para transporte y conservación en entorno de laboratorio. -
Crisoles cilíndricos de alúmina Al₂O₃ varios tamaños 0.1-2.900 ml
Crisoles de alta puereza con forma cilíndrica, disponibles en capacidades desde 0.1 ml hasta casi 3.000 ml. Ideales para aplicaciones de laboratorio, análisis térmico y procesos de fusión a alta temperatura.
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Cubres de borosilicato con recubrimiento de oro – 50nm
Cubres de vidrio borosilicato de alta calidad recubiertos con 50 nm de oro (Au) de alta pureza (99.999%). Diseñados para aplicaciones avanzadas en nanotecnología, biotecnología y microscopía de fuerzas atómicas (AFM). La imagen es una recreación digital, los cubres de oro reales podrían diferir en brillo y tonalidad. -
Discos de Mica V1 máx. calidad – AFM V1 Mica discs Ø10mm – pack 10
Wafers (obleas) de mica de grado más alto V1 de 10mm de diámetro, paquete de 10 discos. Aplicaciones en microscopía y semiconductores.
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Láminas de Mica de máxima calidad – Mica Sheets V1 para AFM
Las láminas “Mica Sheets” calidad V1 son ideales para aplicaciones de microscopía y preparación de muestras, ofreciendo superficies limpias y planas. Espesor de 0.15 a 0.177mm (0.006 – 0.007″)
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Nuevos discos de zafiro de alta pureza PELCO -Microscopía y criofijación
Discos de zafiro (Al₂O₃) de alta pureza, rectificados y pulidos ópticamente por ambas caras. Diseñados específicamente como sustratos de alta estabilidad mecánica y térmica para aplicaciones avanzadas en microscopía y preparación de muestras. -
Oblea de silicio Ø2″ (diámetro 5 cm) recubierta de oro
Wafer u oblea recubierta de una capa de oro de 50nm sobre silicio tipo P <111> de 500µm. Ideal para aplicaciones en nanotecnología y biotecnología.
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Referencias calibración EDS PELCO® XCS en pin stub de Ø 12,7 mm
Estándares compactos y de alta calidad para calibración EDS, diseñados para pruebas rápidas in situ. Incluyen elementos puros y compuestos montados en pines de 12,7 mm, ideales para verificar rendimiento, resolución y respuesta espectral.
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Sonda ContAl AFM modo contacto recubierta aluminio reflectante
Sonda AFM de silicio para modo contacto. Presenta un cantilever tipo viga con constante de 0.2 N/m, punta rotada de alta resolución (< 10 nm) y recubrimiento reflectante de aluminio.
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Soporte de muestra para AFM, acero inoxidable, compatible con Veeco/Bruker
Soporte de muestra circular para microscopía de fuerza atómica (AFM), fabricado en acero inoxidable. Compatible con sistemas Veeco/Bruker y otros equipos AFM estándar.
