Estándares de calibración SEM y EDS
No encuentras un producto en la web? Lo tenemos.
Pídenoslo al solicitar tu presupuesto. Trabajamos con todo el catálogo y referencias de nuestros fabricantes.
Inicia sesión para ver precios y solicitar tu presupuesto.
¿Nuevo por aquí? Crea tu cuenta en segundos.
-
Muestra para calibración microscopio SEM de estaño sobre carbono
Especimen estaño sobre carbono para alineacion de columnas, corregir astigmatismo y verificar resolucion. Partículas de <5 nm a 30 µm.
-
Patrón de Magnificación MRS-4 SEM Micrómetro de Etapa (certificado)
Estándar de calibración de alta precisión para SEM, compatible con múltiples técnicas de microscopía y análisis químico. Incluye micrómetro de etapa y patrón geométrico certificado. -
Patrones standard prueba de resolución SEM, FIB/SEM y FE/SEM
Patrones de prueba para evaluar la resolución en SEM, FESEM y FIB. Oro sobre carbono para máxima definición, contraste y baja distorsión en imágenes de alta resolución. -
Rejilla de prueba TG3D-3000/20 para calibración en Direcciones X, Y y Z
Estructura tridimensional, esta rejilla está diseñada para la calibración simultánea en las direcciones X, Y y Z, así como para la calibración lateral de escáneres SPM y la detección de cualquier no linealidad lateral, histéresis, deformación y efectos de acoplamiento cruzado.
-
Réplica de red de difracción 500 nm para calibración en SEM
Con paso de 500 nm, líneas cruzadas (cross line grating) y 2.000 líneas/mm. Montada sobre malla de cobre de 3 mm para calibración de aumentos. -
Standard Rolls Royce Alloy + Co montado en pin stub latón Ø32mm
Patrón de referencia certificado y aprobado por Rolls-Royce para microanálisis de alta precisión. Compuesto por aleación Al-9014 con insertos de Cobalto, diseñado para cumplir con los estrictos protocolos de validación de la industria aeroespacial.
