Rejillas TEM (Grids)
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Rejillas TEM con película de carbono de alta pureza
Películas de carbono de alta pureza depositados sobre rejillas de microscopía electrónica de transmisión (TEM). Diseñados para proporcionar una base mecánicamente estable y químicamente inerte con una interferencia mínima en el contraste de la muestra. Varios materiales y medidas de entramado, ver tabla. -
Rejillas Quantifoil R 3.5/1 película de carbono patrón ortogonal
Rejillas de muy alta precisión para TEM con orificios de 3.5 µm y separación de 1 µm. Diseñados para estandarizar la preparación de muestras en crio-microscopía y permitir la adquisición automatizada de datos. Importante: en ocasiones los plazos de entrega puede superar las 12 semanas.
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Pioloform (polivinil acetal) en polvo para películas de soporte – 10 gr
Resina de polivinil acetal de alta calidad diseñada específicamente para la fabricación de películas de soporte ultrafinas y resistentes destinadas a rejillas de microscopía electrónica de transmisión (TEM).
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Rejillas Quantifoil R 2/2 película de carbono y patrón ortogonal
Sustratos de soporte de alta precisión para TEM con orificios de 2.0 µm y separación de 2.0 µm. Ideales para la estabilización de muestras y la automatización en criomicroscopía electrónica.
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PELCO® Rejillas Hexagonales para TEM, 180 Mesh, 3.0 mm Cobre
Rejillas hexagonales para microscopía electrónica de transmisión (TEM), fabricadas en cobre, con 180 mallas y centro marcado para una alineación precisa.
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Finder Grids – Rejillas TEM con patrón de localización de muestras
Grillas TEM con patrones de referencia para localizar áreas específicas en análisis. Ideales para aplicaciones forenses, asbestos y estudios detallados en microscopía electrónica. Maxtaform, Microncenter, Pinpointer etc (ver tabla variaciones).
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PELCO® Membrana perforada holey nitruro silicio 200 nm Ø3mm
Soporte perforado de nitruro de silicio para TEM con membrana de 200 nm y ventana de 0,5 × 0,5 mm. Disponible en 12 tamaños de poro (100 nm a 5 µm) para experimentos avanzados en nanotecnología.
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Membranas soporte de nitruro de silicio PELCO® hidrofílicas-hidrofóbicas
Membranas de nitruro de silicio modificadas por ALD para aplicaciones TEM, disponibles en versiones hidrofílicas e hidrofóbicas. Ofrecen control de energía superficial y compatibilidad total con portagrids estándar.
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Ventanas soporte de nitruro de silicio frame 5 ó 10 mm | para Rayos X – EM
Ofrecen alta resistencia mecánica y excelente transmisión para análisis espectroscópicos.
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Gilder Grids HEX – Rejillas TEM de mesh hexagonal
Grids estándar con malla hexagonal para microscopía electrónica de barrido. Disponibles en diferentes espesores de malla y soportes: cobre, níquel, oro etc. Consúltanos.
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Rejillas TEM PELCO® FIB Lift-Out para extracción in-situ Ø 3 mm
Grillas TEM diseñadas para la extracción in-situ de láminas (lamella) mediante sistemas SEM/FIB. Compatibles con portamuestras estándar, ofrecen visibilidad total y alta precisión en el posicionamiento.
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Membranas de nitruro de silicio para TEM, 8–200 nm múltiples ventanas
Soportes de nitruro de silicio ultra-baja tensión para TEM, fabricados con tecnología MEMS. Disponibles en espesores de 8 a 200 nm y varias configuraciones de ventana, ideales para aplicaciones de nanotecnología y biología molecular.
