Ted Pella
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Finder Grids – Rejillas TEM con patrón de localización de muestras
Grillas TEM con patrones de referencia para localizar áreas específicas en análisis. Ideales para aplicaciones forenses, asbestos y estudios detallados en microscopía electrónica. Maxtaform, Microncenter, Pinpointer etc (ver tabla variaciones).
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Membranas de nitruro de silicio para TEM, 8–200 nm múltiples ventanas
Soportes de nitruro de silicio ultra-baja tensión para TEM, fabricados con tecnología MEMS. Disponibles en espesores de 8 a 200 nm y varias configuraciones de ventana, ideales para aplicaciones de nanotecnología y biología molecular. -
Membranas soporte de nitruro de silicio PELCO® hidrofílicas-hidrofóbicas
Membranas de nitruro de silicio modificadas por ALD para aplicaciones TEM, disponibles en versiones hidrofílicas e hidrofóbicas. Ofrecen control de energía superficial y compatibilidad total con portagrids estándar.
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PELCO® Membrana perforada holey nitruro silicio 200 nm Ø3mm
Soporte perforado de nitruro de silicio para TEM con membrana de 200 nm y ventana de 0,5 × 0,5 mm. Disponible en 12 tamaños de poro (100 nm a 5 µm) para experimentos avanzados en nanotecnología.
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PELCO® Rejillas Hexagonales para TEM, 180 Mesh, 3.0 mm Cobre
Rejillas hexagonales para microscopía electrónica de transmisión (TEM), fabricadas en cobre, con 180 mallas y centro marcado para una alineación precisa.
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Rejillas TEM con película de soporte formvar, carbon o ambas
Rejillas TEM con películas de soporte con diferentes combinaciones.
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Rejillas TEM con pestaña y marca central – Pelco marked grids
Rejillas TEM más gruesas y rígidas que las tradicionales, facilitando su manipulación sin riesgo de doblarse. Disponibles en varios estilos y materiales, son ideales para diversas aplicaciones en microscopía electrónica. Vienen marcadas en el centro y dispone de una pestaña para sujetarlas con la pinza.
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Rejillas TEM PELCO® FIB Lift-Out para extracción in-situ Ø 3 mm
Grillas TEM diseñadas para la extracción in-situ de láminas (lamella) mediante sistemas SEM/FIB. Compatibles con portamuestras estándar, ofrecen visibilidad total y alta precisión en el posicionamiento.
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Rejillas TEM PELCO® FIB Lift-Out para extracción in-situ Ø 3 mm
Grillas TEM diseñadas para la extracción in-situ de láminas (lamella) mediante sistemas SEM/FIB. Compatibles con portamuestras estándar, ofrecen visibilidad total y alta precisión en el posicionamiento.
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Sustrato de nitruro de silicio TEM – Silicon Nitride Support Film
Las PELCO® Silicon Nitride Support Films son películas de soporte de nitruro de silicio para TEM. Robustas y estables, temperaturas de hasta 1000°C. Formato: paquetes de 10, 100 ó 1 unidad.
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Ventanas soporte de nitruro de silicio frame 5 ó 10 mm | para Rayos X – EM
Ofrecen alta resistencia mecánica y excelente transmisión para análisis espectroscópicos.
