Rejillas TEM (Grids)
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Rejillas Quantifoil R 2/2 película de carbono y patrón ortogonal
Sustratos de soporte de alta precisión para TEM con orificios de 2.0 µm y separación de 2.0 µm. Ideales para la estabilización de muestras y la automatización en criomicroscopía electrónica.
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Rejillas Quantifoil R 3.5/1 película de carbono patrón ortogonal
Rejillas de muy alta precisión para TEM con orificios de 3.5 µm y separación de 1 µm. Diseñados para estandarizar la preparación de muestras en crio-microscopía y permitir la adquisición automatizada de datos. Importante: en ocasiones los plazos de entrega puede superar las 12 semanas.
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Rejillas TEM Athene con orificio de 1000 µm en soporte de oro
Grillas de transmisión electrónica (TEM) con orificio central de 1000 µm, fabricadas en oro puro. Ideales para aplicaciones avanzadas en microscopía de alta resolución y análisis de partículas.
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Rejillas TEM con película de carbono de alta pureza
Películas de carbono de alta pureza depositados sobre rejillas de microscopía electrónica de transmisión (TEM). Diseñados para proporcionar una base mecánicamente estable y químicamente inerte con una interferencia mínima en el contraste de la muestra. Varios materiales y medidas de entramado, ver tabla. -
Rejillas TEM con película de soporte formvar, carbon o ambas
Rejillas TEM con películas de soporte con diferentes combinaciones.
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Rejillas TEM con pestaña y marca central – Pelco marked grids
Rejillas TEM más gruesas y rígidas que las tradicionales, facilitando su manipulación sin riesgo de doblarse. Disponibles en varios estilos y materiales, son ideales para diversas aplicaciones en microscopía electrónica. Vienen marcadas en el centro y dispone de una pestaña para sujetarlas con la pinza.
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Rejillas TEM de la gama Athene made by Agar Scientific en UK
La gama Athene (Athene TEM grids) son rejillas de muy de alta calidad para microscopía electrónica de transmisión (TEM), fabricadas y comercializadas por Agar Scientific (Inglaterra).
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Rejillas TEM PELCO® FIB Lift-Out para extracción in-situ Ø 3 mm
Grillas TEM diseñadas para la extracción in-situ de láminas (lamella) mediante sistemas SEM/FIB. Compatibles con portamuestras estándar, ofrecen visibilidad total y alta precisión en el posicionamiento.
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Rejillas TEM PELCO® FIB Lift-Out para extracción in-situ Ø 3 mm
Grillas TEM diseñadas para la extracción in-situ de láminas (lamella) mediante sistemas SEM/FIB. Compatibles con portamuestras estándar, ofrecen visibilidad total y alta precisión en el posicionamiento.
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Sustrato de nitruro de silicio TEM – Silicon Nitride Support Film
Las PELCO® Silicon Nitride Support Films son películas de soporte de nitruro de silicio para TEM. Robustas y estables, temperaturas de hasta 1000°C. Formato: paquetes de 10, 100 ó 1 unidad.
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Ventanas soporte de nitruro de silicio frame 5 ó 10 mm | para Rayos X – EM
Ofrecen alta resistencia mecánica y excelente transmisión para análisis espectroscópicos.
