No encuentras un producto en la web? Lo tenemos.
Pídenoslo al solicitar tu presupuesto. Trabajamos con todo el catálogo y referencias de nuestros fabricantes.
Inicia sesión para ver precios y solicitar tu presupuesto.
¿Nuevo por aquí? Crea tu cuenta en segundos.
-
Soporte de muestra para AFM, acero inoxidable, compatible con Veeco/Bruker
Soporte de muestra circular para microscopía de fuerza atómica (AFM), fabricado en acero inoxidable. Compatible con sistemas Veeco/Bruker y otros equipos AFM estándar.
-
Soporte monta muestras SEM – ESBS inclinación 70º Ø25mm
Inclinación de 70° para pin stubs o montamuestras de 25 mm, compatible con el microscopio M4. Ideal para análisis EBSD en microscopía electrónica de barrido (SEM).
-
Soportes para cuatro rejillas TEM en base pin stubs de JEOL
Soportes especializados para el análisis de hasta 4 rejillas de TEM dentro de un SEM. Diseñado para optimizar la microelectoanálisis (EDS) mediante la reducción del ruido de fondo y la dispersión electrónica. Varios formatos de diámetro.
-
Soportes SEM cilíndricos de aluminio compatibles con JEOL
Portamuestras cilíndricos de aluminio de alta pureza diseñados específicamente para microscopios electrónicos de barrido (SEM) JEOL. Dimensiones de 25 mm de diámetro y 5 mm de altura. Opciones: superficie lisa o superficie ranurada.
-
Standard Rolls Royce Alloy + Co montado en pin stub latón Ø32mm
Patrón de referencia certificado y aprobado por Rolls-Royce para microanálisis de alta precisión. Compuesto por aleación Al-9014 con insertos de Cobalto, diseñado para cumplir con los estrictos protocolos de validación de la industria aeroespacial.
-
Sustrato de nitruro de silicio TEM – Silicon Nitride Support Film
Las PELCO® Silicon Nitride Support Films son películas de soporte de nitruro de silicio para TEM. Robustas y estables, temperaturas de hasta 1000°C. Formato: paquetes de 10, 100 ó 1 unidad.
-
Sustratos Al2O3 C-Plane alta pureza varias medidas rectangular
Sustratos de zafiro monocristalino rectangulares (sapphire) orientados en plano C (0001), ideal para aplicaciones científicas que requieren alta transparencia óptica, resistencia térmica y estabilidad química. -
Sustratos de cuarzo PELCO – Discos pulido óptico ambas caras
Discos de cuarzo fundido de alta calidad, pulidos ópticamente en ambas caras. Ideales como sustratos para investigación en películas delgadas y aplicaciones ópticas. -
Sustratos de sílice fundida alta pureza – microscopía óptica
Sustratos de sílice fundida de alta pureza, con dimensiones precisas y acabado pulido en ambas caras. Ideal para aplicaciones ópticas, espectroscópicas y de microscopía avanzada. -
Sustratos de zafiro (Al₂O₃) tamaño 5×5 mm – Deposición y análisis
Sustrato monocristalino de zafiro (Al₂O₃) de alta pureza, ideal para aplicaciones en deposición de capas delgadas, caracterización óptica y electrónica. Dimensiones: 5 mm x 5 mm x 0.5 mm -
Ventanas soporte de nitruro de silicio frame 5 ó 10 mm | para Rayos X – EM
Ofrecen alta resistencia mecánica y excelente transmisión para análisis espectroscópicos.
-
Wafer sustrato cristalino monocapa de dióxido de silicio fundido (SiO₂)
Oblea (SiO₂) de alta pureza, ideal para aplicaciones en microscopía, deposición de películas delgadas y caracterización de materiales. Presentación en formato individual.
