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Sistema de tinción StainTray™ con tapa – hasta 30 portaobjetos
Cámaras de tinción versátiles diseñadas para inmunohistoquímica y tinciones de rutina. Su diseño modular permite su uso como cámara de humedad estable o como reservorio de residuos, optimizando procesos en histología y citología.
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Sonda ContAl AFM modo contacto recubierta aluminio reflectante
Sonda AFM de silicio para modo contacto. Presenta un cantilever tipo viga con constante de 0.2 N/m, punta rotada de alta resolución (< 10 nm) y recubrimiento reflectante de aluminio.
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Soporte de muestra para AFM, acero inoxidable, compatible con Veeco/Bruker
Soporte de muestra circular para microscopía de fuerza atómica (AFM), fabricado en acero inoxidable. Compatible con sistemas Veeco/Bruker y otros equipos AFM estándar.
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Soporte monta muestras SEM – ESBS inclinación 70º Ø25mm
Inclinación de 70° para pin stubs o montamuestras de 25 mm, compatible con el microscopio M4. Ideal para análisis EBSD en microscopía electrónica de barrido (SEM).
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Soportes para cuatro rejillas TEM en base pin stubs de JEOL
Soportes especializados para el análisis de hasta 4 rejillas de TEM dentro de un SEM. Diseñado para optimizar la microelectoanálisis (EDS) mediante la reducción del ruido de fondo y la dispersión electrónica. Varios formatos de diámetro.
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Soportes SEM cilíndricos aluminio (rosca M4) compatibles Hitachi
Portamuestras cilíndricos de aluminio de alta pureza con rosca interna M4. Desarrollado para una compatibilidad directa con las platinas de los microscopios electrónicos de barrido de sobremesa Hitachi TM4000, TM3030, TM3000 y TM1000, asegurando una óptima conductividad y estabilidad de la muestra.
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Soportes SEM cilíndricos de aluminio compatibles con JEOL
Portamuestras cilíndricos de aluminio de alta pureza diseñados específicamente para microscopios electrónicos de barrido (SEM) JEOL. Dimensiones de 25 mm de diámetro y 5 mm de altura. Opciones: superficie lisa o superficie ranurada.
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Standard Rolls Royce Alloy + Co montado en pin stub latón Ø32mm
Patrón de referencia certificado y aprobado por Rolls-Royce para microanálisis de alta precisión. Compuesto por aleación Al-9014 con insertos de Cobalto, diseñado para cumplir con los estrictos protocolos de validación de la industria aeroespacial.
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Sustrato de nitruro de silicio TEM – Silicon Nitride Support Film
Las PELCO® Silicon Nitride Support Films son películas de soporte de nitruro de silicio para TEM. Robustas y estables, temperaturas de hasta 1000°C. Formato: paquetes de 10, 100 ó 1 unidad.
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Sustratos Al2O3 C-Plane alta pureza varias medidas rectangular
Sustratos de zafiro monocristalino rectangulares (sapphire) orientados en plano C (0001), ideal para aplicaciones científicas que requieren alta transparencia óptica, resistencia térmica y estabilidad química. -
Sustratos de cuarzo PELCO – Discos pulido óptico ambas caras
Discos de cuarzo fundido de alta calidad, pulidos ópticamente en ambas caras. Ideales como sustratos para investigación en películas delgadas y aplicaciones ópticas. -
Sustratos de sílice fundida alta pureza – microscopía óptica
Sustratos de sílice fundida de alta pureza, con dimensiones precisas y acabado pulido en ambas caras. Ideal para aplicaciones ópticas, espectroscópicas y de microscopía avanzada.
