Ted Pella
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Crisoles tipo barquita de evaporación – EM y deposición películas
Fuentes de evaporación fabricadas en tungsteno de alta pureza, ideales para microscopía electrónica y técnicas de deposición al vacío. Alta resistencia térmica y estabilidad.
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Viales Wheaton vidrio borosilicato – tapón de rosca y liner de goma
Viales transparentes fabricados en vidrio Wheaton 33® de baja extracción, con tapón fenólico negro y liner de goma blanca. Ideales para almacenamiento de muestras sensibles en laboratorio, incluso a -40 °C. -
Portaobjetos de vidrio Corning® 0215 75×50 mm bordes pulidos
Portas de vidrio Corning® de alta calidad, tamaño grande (75 × 50 mm), con bordes finamente pulidos y prelavados. Empaquetados verticalmente para máxima protección. -
Sustrato de nitruro de silicio TEM – Silicon Nitride Support Film
Las PELCO® Silicon Nitride Support Films son películas de soporte de nitruro de silicio para TEM. Robustas y estables, temperaturas de hasta 1000°C. Formato: paquetes de 10, 100 ó 1 unidad.
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Alambre platino para evaporación 99,95% Ø0,20 mm – 60cm
Alambre de alta pureza de platino para sistemas de evaporación de alto vacío.
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Rejillas TEM PELCO® FIB Lift-Out para extracción in-situ Ø 3 mm
Grillas TEM diseñadas para la extracción in-situ de láminas (lamella) mediante sistemas SEM/FIB. Compatibles con portamuestras estándar, ofrecen visibilidad total y alta precisión en el posicionamiento.
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Soluciones coloidales de nanopartículas de oro no conjugado (5–250 nm)
Nanopartículas de oro monodispersas en agua, estabilizadas con citrato, ideales para aplicaciones en nanociencia, dispersión de luz y detección molecular. Disponibles en tamaños de 5 a 250 nm.
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Trenzas de cobre fuente de carbono Bradley – gama Cressington 308
Trenzas de cobre de alta conductividad diseñadas para el sistema de evaporación Bradley. Estas conexiones flexibles aseguran una transmisión de corriente estable y eficiente hacia las varillas de carbono en los sistemas Cressington 308.
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Soporte “carrier” para obleas/wafer de Ø2″ x 50 mm (pack de 10)
Porta o soporte para transportar obleas / waffers de silicio o similares de tamaño Ø2″x 50 mm.
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Chips de silicio para soporte de muestras en SEM (low profile)
Soportes para muestras en silicio precortado en chips, ideales para microscopía electrónica de barrido (SEM) por su baja señal de fondo, superficie lisa y excelente compatibilidad con células y nanopartículas. -
OsO₄ tetroxido de osmio 4% acuoso, ampollas 10 x 2 ml
Osmium Tetroxide (Tetraóxido de Osmio) al 2% en solución acuosa se utiliza habitualmente en microscopía electrónica como fijador para preservar la estructura celular de la muestra.
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Kits de calibración Pelco para microscopía de transmisión
Sets completos de especímenes de referencia y ayudas de medición diseñados para la calibración profesional y alineación de sistemas TEM. Permiten verificar con precisión la magnificación, la resolución y los parámetros del modo de difracción en el laboratorio.
