Ted Pella
No encuentras un producto en la web? Lo tenemos.
Pídenoslo al solicitar tu presupuesto. Trabajamos con todo el catálogo y referencias de nuestros fabricantes.
Inicia sesión para ver precios y solicitar tu presupuesto.
¿Nuevo por aquí? Crea tu cuenta en segundos.
-
Pelco® Microslides Box – pack de 12 cajas de 100 portamuestras
Cajas de plástico ABS de alto impacto con capacidad: 100 portaobjetos.
-
Pelco® Optical Lens Tissue – toallitas limpieza papel (x1000)
Caja de papel tipo tisú óptico Pelco para limpieza de lentes y componenentes ópticos delicados. No produce pelusas ni rayones.
-
PELCO® Pinzas Pro High Precision INOX antimagnéticas
Pinzas de alta precisión PELCO Pro, hechas de acero inoxidable no magnético, son ideales para microscopía y aplicaciones de precisión.
-
PELCO® puntas de aguja hueca para sistemas de vacío (39 mm long.)
Puntas de aguja hueca, longitud 39 mm, acero inoxidable, diversos calibres disponibles.
-
Pestañas conductivas carbono PELCO Image Tabs 260µm doble cara
Pestañas adhesivas conductivas PELCO Image Tabs™ de 260 µm, ideales como fondo fotográfico en SEM. Doble cara, reposicionables y con excelente estabilidad bajo recubrimiento metálico.
-
Pestañas conductivas Pelco Carbon Conductive Tabs de doble cara
Las PELCO Tabs™ consisten en una oblea de fibra de carbono impregnada con adhesivo acrílico que contiene carbono. No tienen película interna.
-
Pin stub especial de doble montura 90º Ø25 mm – unidad
Montura doble de 90º para SEM de Ø25 mm, fabricada en aluminio con borde ranurado. Disponible con pin de 9,5 mm o 6 mm, compatible con equipos FEI, ZEISS, TESCAN y otros.
-
Pin stub montamuestras con sujeción micro-vise 1/8″ (3,2 mm)
Micro tornillo de banco compatible con soporte de pin stub.
-
Pin stubs doble ángulo 45º/ 90º Ø12,7 mm para FEI, TESCAN, ZEISS, LEO
Portamuestras aluminio pin stub de 12 mm de diámetro, para microscopía electrónica de barrido (SEM), compatible con equipos FEI, TESCAN, ZEISS, Philips, Leica y otros. Diseño con doble ángulo de observación: 45º y 90º.
-
Pin stubs Ø18mm ranurados: Zeiss/Leo FIB, FIB-SEM, FESEM
Montamuestras pin stubs de aluminio Ø18 mm compatibles con equipos Zeiss/LEO SEM, FE-SEM y FIB-SEM. Disponibles en alturas de 6 y 8 mm. Borde ranurado.
-
Pin stubs ⌀12,7mm x 8mm/6mm – Compatible mayoría microscopios
Montamuestras – pin stubs univesales ⌀12,7mm aluminio, con ranura para pinzas, compatibles con las principales marcas de microscopía electrónica del mercado. Altura de 6 u 8 mm.
-
Pintura de plata coloidal conductora PELCO® formato líquido
Pintura de plata coloidal para establecer rutas de disipación de carga en muestras SEM. Alta conductividad, secado al aire y excelente adherencia sobre múltiples sustratos sin preparación previa.










