Inicia sesión para ver precios y solicitar tu presupuesto.
¿Nuevo por aquí? Crea tu cuenta en segundos.
Chips de silicio para soporte de muestras en SEM (low profile)
| Miniatura | SKU | Diámetro wafer | Medidas chip | Contenido chips | Existencias | Precio | Cantidad | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 | 16005 | ≈10 cm - 4 inch | 20 x 30mm | 6 | Bajo pedido | |||
| 16004 | ≈10 cm - 4 inch | 20 x 20mm | 10 | Bajo pedido | |||
| 16006 | ≈10 cm - 4 inch | 10 x 10mm | 55 | Bajo pedido | |||
| 16008 | ≈10 cm - 4 inch | 5 x 7mm | 270 | 1 disponibles | |||
| 16007 | ≈10 cm - 4 inch | 5 x 7mm | 187 | Bajo pedido | |||
| 16003 | ≈10 cm - 4 inch | 3 x 3mm | 600 | Bajo pedido |
Descripción
Los chips de silicio son soportes para colocar muestra optimizados para microscopía electrónica de barrido (SEM), especialmente útiles en estudios de alta resolución con electrones secundarios y retrodispersados. Su superficie pulida, comparable al vidrio, permite una excelente visualización de partículas pequeñas y estructuras celulares.
Son opacos, con baja resistividad eléctrica, y se entregan limpios y listos para su uso. Disponibles en múltiples formatos precortados a partir de obleas de 4″ (101,6 mm), permiten una manipulación sencilla en laboratorio. Su rugosidad mínima (2 nm) y la ausencia de recubrimiento de SiO₂ los hacen ideales para aplicaciones analíticas y de imagen avanzada.
Especificaciones técnicas
- Material: Silicio tipo P (dopado con Boro)
- Orientación cristalina: <100>
- Resistividad: 1–30 Ohm·cm
- Recubrimiento: Sin capa superior de SiO₂
- Superficie: Pulida por una cara
- Rugosidad: 2 nm
- Espesor de la oblea: 460–530 µm (18–21 mil)
- Limpieza: Enjuague con agua desionizada antes del corte
- Formatos disponibles:
- 3 × 3 mm (≈600 chips/wafer)
- 5 × 5 mm (≈270 chips/wafer)
- 5 × 7 mm (≈187 chips/wafer)
- 10 × 10 mm (≈55 chips/wafer)
- 20 × 20 mm (≈10 chips/wafer)
- 20 × 30 mm (≈6 chips/wafer)
- Aplicaciones: SEM, cultivo celular, análisis de partículas
- Referencias científicas:
- Peters, K.R. (1985), Scanning Electron Microscopy IV:159
- Apkarian, R.P. (1986), Proc. 44th Ann. Meeting of the EMSA
Preguntas Frecuentes (FAQ) chips de silicio para soporte de muestras en SEM (low profile):
-
¿Por qué usar un chip de silicio en lugar de un portaobjetos de vidrio o metal? A diferencia del vidrio, el silicio monocristalino es un semiconductor con una superficie atómicamente plana. Esto elimina cualquier textura de fondo que pudiera confundirse con la muestra a altos aumentos. Además, su conductividad es superior a la del vidrio, lo que reduce drásticamente el efecto de carga (charging) en muestras pequeñas.
-
¿Qué significa que sea un sustrato de “bajo fondo” (low background)? En el análisis por EDS (Energía Dispersiva de Rayos X), cada material del soporte genera sus propios picos en el espectro. Al ser silicio de alta pureza, el único pico de interferencia será el del silicio (). Esto es ideal cuando se analizan partículas biológicas, polímeros o metales, ya que el fondo es predecible, limpio y no enmascara otros elementos químicos.
-
¿Es necesario limpiar los chips antes de depositar la muestra? Aunque vienen empaquetados en condiciones de sala blanca, siempre se recomienda un tratamiento breve de limpieza con plasma (Plasma Cleaning) o un lavado con alcohol isopropílico de grado electrónico para eliminar cualquier rastro de humedad o hidrocarburos ambientales antes de la deposición de nanopartículas o células.
-
¿Cómo se deben fijar las muestras líquidas sobre estos chips? Para suspensiones de nanopartículas, basta con depositar una gota y dejar que se evapore o usar spin-coating. Debido a la naturaleza hidrofílica (o hidrofóbica, dependiendo del tratamiento) del silicio, la distribución de la muestra suele ser mucho más uniforme que en soportes plásticos, evitando el efecto de “anillo de café”.
-
¿Se pueden cortar o romper los chips para ajustarlos al portaobjetos (stub)? Sí, el silicio monocristalino es quebradizo y se puede seccionar fácilmente siguiendo sus planos de cristalografía. Utilizando una punta de diamante o un trazador, puede dividir un chip grande en piezas más pequeñas para optimizar el uso del material sin generar polvo metálico contaminante.
-
¿Son compatibles con la Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)? Absolutamente. Debido a su rugosidad cercana a cero, son el sustrato preferido no solo para SEM, sino también para AFM. Permiten distinguir claramente la morfología de moléculas de ADN, proteínas o nanotubos de carbono que quedarían “perdidos” en la rugosidad de un soporte convencional.
-
¿Cómo se adhieren los chips al portaobjetos del microscopio? Para mantener la integridad del “bajo fondo” y la conductividad, se recomienda fijarlos al stub utilizando una pequeña cantidad de pintura de plata o de carbono en los bordes, o bien mediante las cintas conductoras de doble cara (como las 3M Z-Axis) mencionadas anteriormente.
