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Pelco SEMClip™ Pin stubs con clips para sujeción muestras
Pin stubs de aluminio con sistema de fijación mecánica (clips) para muestras delgadas en microscopía electrónica de barrido. Disponible en versiones estándar (8 mm) y de pin corto (6 mm) para ZEISS/LEO. Versión de diferente diámetro y con hasta 8 clips.
| Miniatura | SKU | Contenido | Diámetro | Nº clips | Altura pin | Existencias | Precio | Cantidad | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 | 16113-80 | Unidad | 50 mm | 8 clips | 9,5 mm - standard | Bajo pedido | |||
 | 16112-20 | Unidad | 38 mm | 2 clips | 9,5 mm - standard | Bajo pedido | |||
 | 16119-10 | Unidad | 18 mm | 1 clip | 9,5 mm - standard | Bajo pedido | |||
| 16119-9-10 | Unidad | 18 mm | 1 clip | 6 mm Zeiss / Leo | Bajo pedido | |||
 | 16144-30 | Unidad | 25 mm | 3 clips | 9,5 mm - standard | Bajo pedido | |||
| 16144-20 | Unidad | 25 mm | 2 clips | 9,5 mm - standard | 1 disponibles | |||
| 16144-10 | Unidad | 25 mm | 1 clip | 9,5 mm - standard | Bajo pedido |
Descripción
Los monta muestras PELCO SEMClip™ han sido diseñados para facilitar una fijación rápida y segura de muestras delgadas (hasta 2 mm de grosor) para su análisis en microscopía electrónica de barrido (SEM). Gracias a sus clips con resorte, pueden sujetar muestras sin necesidad de adhesivos, evitando tiempos de espera y problemas de desgasificación.
Son ideales para sujetar chips de silicio, películas delgadas, hilos, papeles, láminas metálicas y soportes de muestra tipo chip (#16006, #16007, #16008). Las versiones con múltiples clips permiten fijar muestras grandes o varias pequeñas simultáneamente. Se ofrecen modelos con altura de pin estándar (9.5 mm) y reducida (6 mm) para compatibilidad con sistemas ZEISS/LEO SEM/FIB y en múltiples diámetros (de 18 mm a 100 mm), lo que las hace compatibles con la mayoría de sistemas SEM con montura de pin, incluyendo FEI, ZEISS/LEO, Leica, Amray, TESCAN, entre otros.
También existen versiones especiales con inclinación de 45° y 90° para análisis de secciones transversales, así como monturas cilíndricas para JEOL y Hitachi. Para aplicaciones de alta inclinación y baja distancia de trabajo, se recomienda la versión de perfil bajo.
Para la sujeción de hilos conductores, microtubos, tejidos u otros materiales flexibles, se recomienda el uso de los soportes PELCO SEMclamp™.
Especificaciones técnicas
- Diámetros disponibles: Ø18, Ø25, Ø32, Ø38, Ø50, Ø63 y Ø100 mm
- Num clips: 1 hasta 8 (ver opciones).
- Altura del pin: estándar (9.5 mm) y pin corto (6 mm para ZEISS/LEO)
- Grosor máximo de muestra: hasta 2 mm
- Material del pin stub: aluminio mecanizado
- Material de los clips: acero inoxidable con resorte
- Fijación: mecánica, sin adhesivos
- Compatibilidad: SEMs con montura para pin stub (FEI, ZEISS/LEO, Leica, Amray, TESCAN, etc.)
- Aplicaciones: chips de silicio, películas delgadas, hilos, papel, láminas metálicas
- Versiones especiales: 45°, 90°, inclinación variable
- Monturas cilíndricas disponibles para:
- JEOL: Ø25 y Ø32 mm
- Hitachi (rosca M4): Ø15, Ø25, Ø32 y Ø50 mm
- Alternativa: PELCO SEMclamp™ para hilos conductores, microtubos, tejidos u otros materiales flexibles.
- Reutilizable: Sí
Preguntas Frecuentes (FAQ) Pelco SEMClip™ Pin stubs con clips para sujeción muestras:
-
¿En qué casos es preferible usar SEMClips en lugar de cintas conductoras?
Son ideales para muestras que no pueden entrar en contacto con adhesivos debido a la contaminación química, o para especímenes porosos que absorberían el pegamento. También son la mejor opción si necesita recuperar la muestra intacta y limpia inmediatamente después del análisis, sin residuos de carbono o plata.
-
¿Cómo garantizan estos clips la conductividad eléctrica de la muestra?
El clip de resorte está fabricado con materiales conductores que ejercen una presión constante sobre la muestra, manteniéndola en contacto directo con la base del portaobjetos de aluminio. Esto crea un camino de baja resistencia para los electrones hacia la tierra, eliminando la necesidad de aplicar pinturas o cintas adicionales.
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¿Puedo analizar muestras de diferentes grosores en el mismo portaobjetos?
Sí, los clips son flexibles y ajustables. Dependiendo del modelo (de 1, 2 o 3 clips), puede sujetar desde láminas delgadas de obleas de silicio hasta muestras de varios milímetros de espesor, siempre que la altura no interfiera con la distancia de trabajo (WD) de la columna del microscopio.
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¿Los clips generan sombras o interferencias en la imagen de electrones?
Debido a que el clip sobresale por encima de la muestra, puede causar un efecto de “sombreado” si el detector está en un ángulo bajo o si se trabaja a distancias muy cortas. Se recomienda orientar la muestra de modo que la zona de interés esté lo más alejada posible del brazo del clip o usar detectores de electrones secundarios (SE) intra-lente.
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¿Qué materiales se utilizan en la fabricación de los clips?
Normalmente están fabricados en acero inoxidable o aleaciones no magnéticas para evitar cualquier interacción con el haz de electrones o las lentes del SEM. El cuerpo del portaobjetos es de aluminio de alta pureza, compatible con los estándares de vacío más exigentes.
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¿Son reutilizables estos portaobjetos con clips?
A diferencia de los stubs estándar que suelen desecharse tras acumular residuos de pegamento, los SEMClips son totalmente reutilizables. Solo requieren una limpieza con alcohol isopropílico o en un baño de ultrasonidos para eliminar cualquier contaminación entre diferentes muestras, lo que los hace más sostenibles y económicos a largo plazo.
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¿Se pueden usar para muestras que requieren inclinación (tilt) en el microscopio?
Sí, la sujeción mecánica es mucho más segura que el adhesivo cuando se trabaja con ángulos de inclinación elevados. El clip asegura que la muestra no se desplace ni se caiga dentro de la cámara del SEM durante el movimiento de la platina, protegiendo así los detectores y la bomba de vacío.
