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Pelco SEMClip™ Pin stubs con clips para sujeción muestras
Pin stubs de aluminio con sistema de fijación mecánica (clips) para muestras delgadas en microscopía electrónica de barrido. Disponible en versiones estándar (8 mm) y de pin corto (6 mm) para ZEISS/LEO. Versión de diferente diámetro y con hasta 8 clips.
| Miniatura | SKU | Contenido | Diámetro | Nº clips | Altura pin | Existencias | Precio | Cantidad | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 | 16113-80 | Unidad | 50 mm | 8 clips | 9,5 mm - standard | Bajo pedido | |||
 | 16112-20 | Unidad | 38 mm | 2 clips | 9,5 mm - standard | Bajo pedido | |||
 | 16119-10 | Unidad | 18 mm | 1 clip | 9,5 mm - standard | Bajo pedido | |||
| 16119-9-10 | Unidad | 18 mm | 1 clip | 6 mm Zeiss / Leo | Bajo pedido | |||
 | 16144-30 | Unidad | 25 mm | 3 clips | 9,5 mm - standard | Bajo pedido | |||
| 16144-20 | Unidad | 25 mm | 2 clips | 9,5 mm - standard | 1 disponibles | |||
| 16144-10 | Unidad | 25 mm | 1 clip | 9,5 mm - standard | Bajo pedido |
Descripción
Los monta muestras PELCO SEMClip™ han sido diseñados para facilitar una fijación rápida y segura de muestras delgadas (hasta 2 mm de grosor) para su análisis en microscopía electrónica de barrido (SEM). Gracias a sus clips con resorte, pueden sujetar muestras sin necesidad de adhesivos, evitando tiempos de espera y problemas de desgasificación.
Son ideales para sujetar chips de silicio, películas delgadas, hilos, papeles, láminas metálicas y soportes de muestra tipo chip (#16006, #16007, #16008). Las versiones con múltiples clips permiten fijar muestras grandes o varias pequeñas simultáneamente. Se ofrecen modelos con altura de pin estándar (9.5 mm) y reducida (6 mm) para compatibilidad con sistemas ZEISS/LEO SEM/FIB y en múltiples diámetros (de 18 mm a 100 mm), lo que las hace compatibles con la mayoría de sistemas SEM con montura de pin, incluyendo FEI, ZEISS/LEO, Leica, Amray, TESCAN, entre otros.
También existen versiones especiales con inclinación de 45° y 90° para análisis de secciones transversales, así como monturas cilíndricas para JEOL y Hitachi. Para aplicaciones de alta inclinación y baja distancia de trabajo, se recomienda la versión de perfil bajo.
Para la sujeción de hilos conductores, microtubos, tejidos u otros materiales flexibles, se recomienda el uso de los soportes PELCO SEMclamp™.
Especificaciones técnicas
- Diámetros disponibles: Ø18, Ø25, Ø32, Ø38, Ø50, Ø63 y Ø100 mm
- Num clips: 1 hasta 8 (ver opciones).
- Altura del pin: estándar (9.5 mm) y pin corto (6 mm para ZEISS/LEO)
- Grosor máximo de muestra: hasta 2 mm
- Material del pin stub: aluminio mecanizado
- Material de los clips: acero inoxidable con resorte
- Fijación: mecánica, sin adhesivos
- Compatibilidad: SEMs con montura para pin stub (FEI, ZEISS/LEO, Leica, Amray, TESCAN, etc.)
- Aplicaciones: chips de silicio, películas delgadas, hilos, papel, láminas metálicas
- Versiones especiales: 45°, 90°, inclinación variable
- Monturas cilíndricas disponibles para:
- JEOL: Ø25 y Ø32 mm
- Hitachi (rosca M4): Ø15, Ø25, Ø32 y Ø50 mm
- Alternativa: PELCO SEMclamp™ para hilos conductores, microtubos, tejidos u otros materiales flexibles.
- Reutilizable: Sí
