Pin stub especial de doble montura 90º Ø25 mm – unidad

Esta montura doble de 90º para SEM (Scanning Electron Microscope) con diámetro de 25 mm está diseñada para ofrecer una solución robusta, precisa y versátil en la colocación de muestras durante el análisis por microscopía electrónica de barrido. Esta montura permite posicionar dos muestras en ángulo recto (90º), lo que facilita el análisis simultáneo o comparativo desde diferentes orientaciones, optimizando el tiempo de trabajo y la eficiencia del análisis.

Fabricada en aluminio mecanizado de alta calidad, esta montura garantiza una excelente conductividad, resistencia mecánica y durabilidad. Su borde ranurado facilita la manipulación con guantes o herramientas de laboratorio, y su diseño compacto permite una integración perfecta en cámaras de vacío de distintos modelos de microscopios.

Está disponible en dos versiones según la altura del pin:

• Pin de 9,5 mm, compatible con equipos FEI, TESCAN, ZEISS, así como con modelos antiguos de Philips, LEO, Cambridge, AMRAY, Leica, CamScan y ETEC.
• Pin corto de 6 mm, especialmente diseñado para sistemas ZEISS/LEO.

Ambas versiones ofrecen una sujeción firme y estable, asegurando que las muestras permanezcan en la posición deseada durante todo el proceso de análisis. Esta montura es ideal para laboratorios que requieren precisión, repetibilidad y compatibilidad con múltiples plataformas SEM.