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Pin stubs doble ángulo 45º/ 90º Ø12,7 mm para FEI, TESCAN, ZEISS, LEO
Portamuestras aluminio pin stub de 12 mm de diámetro, para microscopía electrónica de barrido (SEM), compatible con equipos FEI, TESCAN, ZEISS, Philips, Leica y otros. Diseño con doble ángulo de observación: 45º y 90º.
Descripción
El pin stub de Ted Pella modelo 15359 está diseñado para alojar muestras en microscopía electrónica de barrido con orientación a 45º y 90º, facilitando el análisis topográfico y angular en distintos tipos de equipos SEM. Fabricado en aluminio con borde ranurado para mejor manipulación, este soporte de 12,7 mm de diámetro es compatible con una amplia gama de microscopios, incluyendo FEI, TESCAN, ZEISS, Philips, LEO, Leica, Cambridge, AMRAY, CamScan y ETEC. Su pin inferior de 7,8 mm de altura permite una inserción precisa en sistemas con base tipo LEO. Ideal para laboratorios de caracterización de materiales, análisis de superficies y estudios de microestructura.
Especificaciones técnicas
- Código de producto: 15359
- Tipo: pin stub para muestras SEM con doble ángulo
- Ángulos de observación: 45º y 90º
- Diámetro del pin stub: 12,7 mm
- Altura del pin: 7,8 mm
- Material: aluminio
- Borde: ranurado para mejor agarre con pinzas o tenacillas
- Compatibilidad:
- FEI
- TESCAN
- ZEISS
- Philips
- LEO
- Cambridge
- AMRAY
- Leica
- CamScan
- ETEC
- Tipo de inserción: pin leg compatible con sistemas LEO
- Aplicaciones: microscopía electrónica de barrido (SEM) para análisis de superficies, caracterización de materiales etc.
- Unidades por paquete: 1 soporte pin stub
