Pin stubs doble ángulo 45º/ 90º Ø12,7 mm para FEI, TESCAN, ZEISS, LEO

• Código de producto: 15359
• Tipo: pin stub para muestras SEM con doble ángulo
• Ángulos de observación: 45º y 90º
• Diámetro del pin stub: 12,7 mm
• Altura del pin: 7,8 mm
• Material: aluminio
• Borde: ranurado para mejor agarre con pinzas o tenacillas
• Compatibilidad:
  • FEI
  • TESCAN
  • ZEISS
  • Philips
  • LEO
  • Cambridge
  • AMRAY
  • Leica
  • CamScan
  • ETEC
• Tipo de inserción: pin leg compatible con sistemas LEO
• Aplicaciones: microscopía electrónica de barrido (SEM) para análisis de superficies, caracterización de materiales etc.
• Unidades por paquete: 1 soporte pin stub

Estos Pin Stubs de doble ángulo son herramientas de geometría avanzada para microscopía. A diferencia de los soportes planos, permiten observar los laterales y las secciones transversales de una muestra sin necesidad de sistemas de inclinación motorizados complejos.

Aquí tienes las Preguntas Frecuentes (FAQ) diseñadas para este producto de Labstore IESMAT:

Preguntas Frecuentes (FAQ) Pin stubs doble ángulo 45º/ 90º Ø12,7 mm para FEI, TESCAN, ZEISS, LEO:

1. ¿Para qué sirve tener ángulos fijos de 45° y 90° en un mismo soporte?

   Estos soportes están diseñados para el análisis de “sección transversal” (cross-section) y bordes. El ángulo de 90° permite observar el perfil exacto de una muestra (como capas de recubrimiento o microchips) de forma perpendicular al haz, mientras que el de 45° es ideal para una perspectiva tridimensional que combine la parte superior y el lateral sin forzar la mecánica de la platina del SEM.

2. ¿Por qué usar estos stubs si mi microscopio ya tiene una platina motorizada con inclinación (Tilt)?

   Inclinar la platina principal del microscopio puede ser arriesgado si la muestra es grande, ya que aumenta la posibilidad de colisión con los detectores o la pieza polar. Estos stubs permiten obtener el ángulo deseado manteniendo la platina en posición horizontal (0°), lo que garantiza una mayor seguridad y permite trabajar a distancias de trabajo (WD) mucho más cortas para obtener mayor resolución.

3. ¿Son compatibles con cualquier marca de microscopio electrónico?

   Este modelo específico con pin de ∅ 12.7 mm está optimizado para sistemas FEI/Thermo Fisher, Tescan, Zeiss y LEO. Aunque el diámetro del pin es estándar, la altura del bloque está calculada para no interferir con los sensores de estas cámaras, pero siempre se recomienda verificar el espacio libre (clearance) antes de introducirlos.

4. ¿Cómo se asegura la muestra en las caras inclinadas para que no se caiga?

   Debido a la gravedad y al ángulo, se recomienda el uso de adhesivos de alta pegajosidad inicial, como la Cinta de Carbono de doble cara o, mejor aún, Pintura de Plata/Carbono líquida. La pintura asegura que la muestra no se deslice durante la carga del vacío o el movimiento de la platina, además de proporcionar un camino conductor robusto.

5. ¿Qué material se utiliza en su fabricación y por qué es importante?

   Están fabricados en aluminio de grado de vacío de alta pureza. Este material es ligero, excelente conductor térmico y eléctrico, y no magnético. Al ser un material “limpio”, no desgasifica (no produce outgassing), lo que mantiene la integridad del vacío y evita la contaminación de la columna.

6. ¿Es posible realizar análisis químico (EDS) de forma fiable en estas superficies?

   Sí, pero hay que tener en cuenta la geometría. Al estar la muestra inclinada, el camino de los rayos X hacia el detector EDS cambia. Es fundamental orientar el stub de modo que la cara inclinada apunte directamente hacia el detector para evitar el “efecto de sombra” del propio soporte de aluminio, que podría absorber la señal de la muestra.

7. ¿Se pueden reutilizar estos soportes de doble ángulo?

   Sí, son totalmente reutilizables. Al ser bloques de aluminio macizos, soportan limpiezas profundas en baños de ultrasonidos con solventes orgánicos para eliminar restos de pegamento o muestras anteriores, lo que los convierte en una inversión duradera para el laboratorio.