Pinzas punta agarre en ángulo para manipular pin stubs de Ø12.7 mm

• Ángulo: 30º, 45º y 57º (ver tabla).
• Compatibilidad: Pin stubs de Ø 12 a 12.7 mm.
• Material: Acero inoxidable (uso en laboratorio).
• Uso: Manipulación precisa de muestras en microscopía electrónica de barrido.
• Marcas compatibles: FEI/Philips, ZEISS/LEO, Leica, AMRAY, Cambridge Instruments, etc.

Preguntas Frecuentes (FAQ) Pinzas punta agarre en ángulo para manipular pin stubs de Ø12.7 mm:

1. ¿Por qué es necesario el ángulo de 45° en estas pinzas? El ángulo de 45° permite al usuario manipular el portaobjetos manteniendo la mano en una posición natural y fuera de la línea de visión directa. Esto es especialmente útil al insertar muestras en cámaras de SEM estrechas o profundas, ya que evita que los nudillos choquen con la puerta de la cámara o los detectores internos (como el detector de electrones secundarios).

2. ¿Qué ventaja ofrece el diseño tipo “tenacilla” para los portaobjetos de 32 mm? A diferencia de las pinzas de punta fina, las tenacillas tienen puntas anchas y curvadas que abrazan la circunferencia del portaobjetos (stub) de 32 mm. Esto proporciona un agarre de tres puntos mucho más estable, evitando que un portaobjetos tan grande y pesado se resbale o pivote, lo que podría causar un desastre si cae dentro del microscopio.

3. ¿Son compatibles con otros tamaños de Pin Stubs? Aunque están optimizadas para el diámetro de 32 mm (1.25″), su apertura ajustable permite sujetar con seguridad otros tamaños grandes como los de 25 mm. Sin embargo, para los portaobjetos estándar de 12.7 mm, estas pinzas resultan demasiado voluminosas, por lo que se recomienda usarlas específicamente para muestras macroscópicas o metalográficas.

4. ¿De qué material están fabricadas y cómo afecta al vacío? Están fabricadas en acero inoxidable de alta calidad, lo que garantiza que no se oxiden y que sean fáciles de descontaminar. Al ser un material inerte y limpio, no transfieren partículas ni aceites volátiles a la muestra, asegurando que el nivel de vacío de la columna del SEM no se vea comprometido por contaminantes orgánicos.

5. ¿Pueden dañar la superficie de la muestra al sujetarla? No, siempre que se utilicen correctamente. El diseño de la punta está pensado para sujetar el borde lateral del portaobjetos, no la cara superior donde se encuentra la muestra. Esto asegura que la zona de interés permanezca intacta y libre de marcas de presión o rayaduras metálicas que podrían aparecer en las micrografías.