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Rejillas TEM PELCO® FIB Lift-Out para extracción in-situ Ø 3 mm
Grillas TEM diseñadas para la extracción in-situ de láminas (lamella) mediante sistemas SEM/FIB. Compatibles con portamuestras estándar, ofrecen visibilidad total y alta precisión en el posicionamiento.
Descripción
Grillas TEM diseñadas para la extracción in-situ de láminas mediante sistemas SEM/FIB. Compatibles con portamuestras estándar, ofrecen visibilidad total y alta precisión en el posicionamiento.
Las PELCO® FIB Lift-Out están optimizadas para la transferencia directa de láminas TEM obtenidas por sistemas SEM/FIB. Con un diámetro estándar de 3 mm, se adaptan a todos los portamuestras TEM convencionales, facilitando el análisis sin obstrucciones visuales.
Disponibles en formatos de 4, 5 u 8 postes, cada uno identificado por un patrón de puntos para una lectura rápida. Fabricadas en cobre o molibdeno, ofrecen distintas configuraciones de soporte: los modelos de cobre incluyen un refuerzo perimetral, mientras que los de molibdeno presentan bordes afilados y postes de diferentes dimensiones para mayor versatilidad en la manipulación de muestras. Su diseño robusto y preciso las convierte en una herramienta esencial para laboratorios de microscopía electrónica de alta resolución.
Especificaciones técnicas
- Aplicación: Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)
- Diámetro: 3 mm
- Compatibilidad: Portamuestras TEM estándar
- Materiales disponibles: Cobre (Cu) y Molibdeno (Mo)
- Espesor nominal: 25 µm ± 5 µm (Cu); 25 µm (Mo)
- Formatos disponibles: 4, 5 u 8 postes
- Identificación de postes: Patrón de puntos bajo cada poste
- Dimensiones de postes (Cu): 60 × 25 × 190 µm (Ancho × Profundidad × Alto)
- Configuración postes (Mo):
- Postes estrechos: 60 × 190 µm
- Postes anchos: 120 × 190 µm con muesca de 120°
- Refuerzo estructural: Borde elevado en modelos de cobre
- Bordes afilados en modelos de molibdeno
