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Soportes para cuatro rejillas TEM en base pin stubs de JEOL
Soportes especializados para el análisis de hasta 4 rejillas de TEM dentro de un SEM. Diseñado para optimizar la microelectoanálisis (EDS) mediante la reducción del ruido de fondo y la dispersión electrónica. Varios formatos de diámetro.
| Miniatura | SKU | Diámetro | Cantidad | Capacidad rejillas | Existencias | Precio | Cantidad | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 | 15469-32 | 32 mm | 1 | 4 | Bajo pedido | |||
| 15469-25 | 25 mm | 1 | 4 | Bajo pedido | |||
| 15469-12 | 12.2 mm | 1 | 4 | Bajo pedido |
Descripción
Porta-rejillas técnico permite la observación y el análisis de muestras montadas en rejillas de TEM directamente en un microscopio electrónico de barrido (SEM). Su diseño es ideal para aplicaciones de EDS, ya que permite colocar películas delgadas o partículas sobre la rejilla, minimizando la contribución de la platina al espectro y mejorando los límites de detección.
Incorpora un pin de separación (“stand-off”) que eleva la muestra para reducir la dispersión de electrones y rayos X.
Especificaciones técnicas
- Capacidad: Hasta 4 rejillas de TEM estándar.
- Compatibilidad de base: Disponible para monturas JEOL de ø12.2mm, ø25mm y ø32mm.
- Material: Aluminio de grado vacío con tornillería de latón.
- Geometría de orificios: Diámetro de 2.1mm con ángulo de apertura de 120°.
- Diseño funcional: Incluye pin de separación (stand-off) para minimizar scattering.
- Identificación: Posiciones de rejilla numeradas para trazabilidad de muestras.
- Dimensiones generales: Altura general de unos 25mm.
