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Sustratos de sílice fundida alta pureza – microscopía óptica
Sustratos de sílice fundida de alta pureza, con dimensiones precisas y acabado pulido en ambas caras. Ideal para aplicaciones ópticas, espectroscópicas y de microscopía avanzada.
| Miniatura | SKU | Contenido | Grosor | Tamaño | Pulido | Rugosidad superficial | Existencias | Precio | Cantidad | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() | SOF252510S2 | 1 unidad | 0.1 mm | 10 x 10 mm | Ambas caras | < 5 Å RMS | Bajo pedido |
Descripción
Estos sustratos de sílice fundida presenta una excelente transmisión en el rango UV-visible, baja expansión térmica y alta resistencia química, lo que lo convierte en una opción óptima para entornos exigentes de laboratorio. El pulido en ambas caras garantiza una superficie uniforme y libre de imperfecciones, adecuada para deposición de películas delgadas, análisis espectroscópico y como base para experimentación en óptica de precisión.
Gracias a su estabilidad dimensional y propiedades dieléctricas, es ampliamente utilizado en microscopía electrónica, óptica láser y caracterización de materiales. Su formato compacto de 1 x 1 mm y grosor de 1,0 mm facilita su integración en sistemas experimentales y dispositivos personalizados.
Gracias a su estabilidad dimensional y propiedades dieléctricas, es ampliamente utilizado en microscopía electrónica, óptica láser y caracterización de materiales. Su formato compacto de 1 x 1 mm y grosor de 1,0 mm facilita su integración en sistemas experimentales y dispositivos personalizados.
Especificaciones técnicas
- Material: Sílice fundida de alta pureza
- Dimensiones: varias, ver opciones.
- Acabado superficial: Pulido en ambas caras o en una cara.
- Transmisión óptica: Excelente en UV y visible
- Resistencia térmica: Alta estabilidad frente a cambios de temperatura
- Compatibilidad: Ideal para deposición de capas delgadas y análisis óptico
- Aplicaciones: Microscopía, espectroscopía, óptica láser, caracterización de materiales…



