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Holey Carbon grids on copper – rejillas TEM cobre perforadas
Rejilla TEM con película ultrafina continua sobre soporte lacey de carbono. Ideal para observar nanotubos, virus y partículas finas con mínima interferencia del soporte.
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Sustratos Al2O3 C-Plane alta pureza varias medidas rectangular
Sustratos de zafiro monocristalino rectangulares (sapphire) orientados en plano C (0001), ideal para aplicaciones científicas que requieren alta transparencia óptica, resistencia térmica y estabilidad química. -
Sustratos de sílice fundida alta pureza – microscopía óptica
Sustratos de sílice fundida de alta pureza, con dimensiones precisas y acabado pulido en ambas caras. Ideal para aplicaciones ópticas, espectroscópicas y de microscopía avanzada. -
DPX medio de montaje para histología (frasco 100 ml)
Botella de vídrio borosilicato, capacidad de 100ml conocido por su alta resistencia química y térmica
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Crisoles cilíndricos de alúmina Al₂O₃ varios tamaños 0.1-2.900 ml
Crisoles de alta puereza con forma cilíndrica, disponibles en capacidades desde 0.1 ml hasta casi 3.000 ml. Ideales para aplicaciones de laboratorio, análisis térmico y procesos de fusión a alta temperatura.
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S20 Ion sputter coater de alto vacío con dual target y bomba integrada
Resultados profesionales de carbonado en un formato pequeño, automático y fácil de usar, sin comprometer la calidad del recubrimiento ni la integridad de la muestra. Solicita presupuesto en labstore@iesmat.com
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C10 Evaporador carbono digital alto vacío con carga de hilo automática
Resultados profesionales de carbonado en un formato pequeño, automático y fácil de usar, sin comprometer la calidad del recubrimiento ni la integridad de la muestra. Solicita presupuesto en labstore@iesmat.com
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CoolGlow discharge Sistema de descarga luminiscente rejillas TEM
Solicita presupuesto en labstore@iesmat.com Sistema compacto y autónomo de descarga luminiscente para el tratamiento superficial de rejillas de soporte TEM, optimizando la adhesión de muestras biológicas o materiales. -
S300 ION Sputtering para recubrir muestras hasta Ø304.8 mm – FESEM
Solicita presupuesto en labstore@iesmat.com Sistema de pulverización iónica de alto vacío con tecnología magnetrón (dual target), ideal para recubrimientos conductores en muestras para microscopía electrónica de barrido de alta resolución (FESEM). Compatible con obleas semiconductores de hasta 12 pulgadas (≈ Ø305 mm).
