Catálogo
No encuentras un producto en la web? Lo tenemos.
Pídenoslo al solicitar tu presupuesto. Trabajamos con todo el catálogo y referencias de nuestros fabricantes.
Inicia sesión para ver precios y solicitar tu presupuesto.
¿Nuevo por aquí? Crea tu cuenta en segundos.
-
AFM Probes Tap300-G – Sondas modo Tapping marca BudgetSensors
Sondas AFM de silicio para modo tapping y no contacto, con punta rotada para una representación más simétrica de las características de la muestra. Compatible con la mayoría de sistemas AFM comerciales.
-
Patrón de Magnificación MRS-4 SEM Micrómetro de Etapa (certificado)
Estándar de calibración de alta precisión para SEM, compatible con múltiples técnicas de microscopía y análisis químico. Incluye micrómetro de etapa y patrón geométrico certificado. -
Soluciones coloidales de nanopartículas de oro no conjugado (5–250 nm)
Nanopartículas de oro monodispersas en agua, estabilizadas con citrato, ideales para aplicaciones en nanociencia, dispersión de luz y detección molecular. Disponibles en tamaños de 5 a 250 nm.
-
Filamentos Hitachi para microscopios de tipo SEM Tabletop
Filamentos Hitachi para microscopios SEM Tabletop
-
Pulidor de trípode PELCO Tripod Polisher – para muestras TEM y SEM
Sistema de pulido manual de alta precisión diseñado para la preparación de muestras TEM y SEM mediante desbaste controlado. Permite obtener secciones extremadamente delgadas y cuñas perfectas con una exactitud micrométrica inigualable en ciencia de materiales.
-
Minibach D-9 dispersor homogeneizador para muestras 0,1 a 20.000 ml
Potente, de altísima velocidad, manejable y compacto. Agitador de alto rendimiento diseñado para aplicaciones de laboratorio que requieren mezcla homogénea de muestras. Ideal para entornos de investigación científica y análisis químico.
-
Targets de alta pureza para sputter coater Ø57 mm – Ø28 mm
Targets de pulverización de alta pureza para sputter coaters tipo Cressington, Quorum o BESC. Disponibles en metales nobles y en otros metales o aleaciones.
-
LaB6 Denka M-3 cátodo para JEOL punta estándar 90°-15µm
Cátodo Denka M-3 de hexaboruro de lantano (LaB6) con punta estándar de 90° y radio de 15 µm. Compatible con bases tipo K para microscopios electrónicos JEOL. -
Referencias calibración EDS PELCO® XCS en pin stub de Ø 12,7 mm
Estándares compactos y de alta calidad para calibración EDS, diseñados para pruebas rápidas in situ. Incluyen elementos puros y compuestos montados en pines de 12,7 mm, ideales para verificar rendimiento, resolución y respuesta espectral.
-
Cathode LaB6 Kimball cátodo ES423E-90/20 cono 90° microflat 20µm
Cátodo de hexaboruro de lantano (LaB₆) de alta resolución y brillo, con microflat de 6 µm y cono de 60°, diseñado para microscopios electrónicos de transmisión (TEM). Compatible con múltiples bases de fabricantes. -
Cathode LaB6 Kimball cátodo ES423E-60/6 cono 60° microflat 6 µm
Cátodo de hexaboruro de lantano (LaB₆) de alta resolución y alto brillo, diseñado para microscopios electrónicos de transmisión (TEM). Geometría de cono de 60° con microplano de 6 µm. -
Sistema Sequenza con Rack y Coverplate inmunotinción por microondas
Sistema para inmunotinción en portaobjetos mediante tecnología de microondas. Reduce el volumen de reactivos y optimiza la aplicación de anticuerpos con capilaridad controlada.
