Catálogo
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AFM Probes Tap300-G – Sondas modo Tapping marca BudgetSensors
Sondas AFM de silicio para modo tapping y no contacto, con punta rotada para una representación más simétrica de las características de la muestra. Compatible con la mayoría de sistemas AFM comerciales.
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Patrón de Magnificación MRS-4 SEM Micrómetro de Etapa (certificado)
Estándar de calibración de alta precisión para SEM, compatible con múltiples técnicas de microscopía y análisis químico. Incluye micrómetro de etapa y patrón geométrico certificado. -
Soluciones coloidales de nanopartículas de oro no conjugado (5–250 nm)
Nanopartículas de oro monodispersas en agua, estabilizadas con citrato, ideales para aplicaciones en nanociencia, dispersión de luz y detección molecular. Disponibles en tamaños de 5 a 250 nm.
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Filamentos Hitachi para microscopios de tipo SEM Tabletop
Filamentos Hitachi para microscopios SEM Tabletop
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Targets de alta pureza para sputter coater Ø57 mm – Ø28 mm
Targets de pulverización de alta pureza para sputter coaters tipo Cressington, Quorum o BESC. Disponibles en metales nobles y en otros metales o aleaciones.
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Referencias calibración EDS PELCO® XCS en pin stub de Ø 12,7 mm
Estándares compactos y de alta calidad para calibración EDS, diseñados para pruebas rápidas in situ. Incluyen elementos puros y compuestos montados en pines de 12,7 mm, ideales para verificar rendimiento, resolución y respuesta espectral.
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Cathode LaB6 Kimball cátodo ES423E-90/20 cono 90° microflat 20µm
Cátodo de hexaboruro de lantano (LaB₆) de alta resolución y brillo, con microflat de 6 µm y cono de 60°, diseñado para microscopios electrónicos de transmisión (TEM). Compatible con múltiples bases de fabricantes. -
Cathode LaB6 Kimball cátodo ES423E-60/6 cono 60° microflat 6 µm
Cátodo de hexaboruro de lantano (LaB₆) de alta resolución y alto brillo, diseñado para microscopios electrónicos de transmisión (TEM). Geometría de cono de 60° con microplano de 6 µm. -
K-kit análisis de líquidos para TEM – Canal microfluídico sellable
Portamuestras desechable con microcanal interno para análisis de líquidos en microscopía electrónica de transmisión (TEM). Compatible con portamuestras estándar de 3 mm. -
Pinzas Cryo-TEM Dumont® compatibles con equipo FEI Vitrobot
Montaje completo de pinzas para Vitrobot Mark I–IV, con opción de mango autocerrable para manipulación precisa y con una sola mano de rejillas de microscopía. Ideal para laboratorios de cryomicroscopía electrónica.
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Pin stubs ⌀12,7mm x 8mm/6mm – Compatible mayoría microscopios
Montamuestras – pin stubs univesales ⌀12,7mm aluminio, con ranura para pinzas, compatibles con las principales marcas de microscopía electrónica del mercado. Altura de 6 u 8 mm.
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Rejilla de prueba TG3D-3000/20 para calibración en Direcciones X, Y y Z
Estructura tridimensional, esta rejilla está diseñada para la calibración simultánea en las direcciones X, Y y Z, así como para la calibración lateral de escáneres SPM y la detección de cualquier no linealidad lateral, histéresis, deformación y efectos de acoplamiento cruzado.
