Catálogo
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Quantifoil® película Holey Carbon Film – Rejillas TEM ortogonales
Rejillas TEM con película de carbono perforada patentada por Quantifoil®, ideales para visualización precisa y automatización en microscopía electrónica. Disponibles en múltiples geometrías y materiales.
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Pinzas Cryo-TEM Dumont® compatibles con equipo FEI Vitrobot
Montaje completo de pinzas para Vitrobot Mark I–IV, con opción de mango autocerrable para manipulación precisa y con una sola mano de rejillas de microscopía. Ideal para laboratorios de cryomicroscopía electrónica.
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Pin stubs ⌀12,7mm x 8mm/6mm – Compatible mayoría microscopios
Montamuestras – pin stubs univesales ⌀12,7mm aluminio, con ranura para pinzas, compatibles con las principales marcas de microscopía electrónica del mercado. Altura de 6 u 8 mm.
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Rejilla de prueba TG3D-3000/20 para calibración en Direcciones X, Y y Z
Estructura tridimensional, esta rejilla está diseñada para la calibración simultánea en las direcciones X, Y y Z, así como para la calibración lateral de escáneres SPM y la detección de cualquier no linealidad lateral, histéresis, deformación y efectos de acoplamiento cruzado.
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Rejillas TEM con película de soporte carbon, formvar o ambas
Rejillas TEM con películas de soporte con diferentes combinaciones.
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Pelco Holey Silicon – Film soporte de nitruro de silicio perforado-
Película soporte de nitruro de silicio amorfo con patrón de poros, ideal para aplicaciones avanzadas de microscopía electrónica de transmisión (TEM) y análisis de partículas a escala nanométrica. -
Silver Conductive Epoxy, H20E Epo-Tek®, contenido 28.35 gr
Epoxi conductivo de plata H20E Epo-Tek® de 28.35 gramos, ideal para aplicaciones en microelectrónica y optoelectrónica. Alta conductividad térmica y eléctrica.
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Sustrato de nitruro de silicio TEM – Silicon Nitride Support Film
Las PELCO® Silicon Nitride Support Films son películas de soporte de nitruro de silicio para TEM. Robustas y estables, temperaturas de hasta 1000°C. Formato: paquetes de 10, 100 ó 1 unidad.
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Wafers de silicio de alta pureza – varios diámetros y formatos
Wafers de silicio de alta pureza disponibles en varios diámetros, ideales para investigación en películas delgadas, semiconductores y aplicaciones avanzadas. Disponibles en versiones estándar y ultra-planas, con o sin recubrimientos.
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Filamentos de tungsteno microscopio Tescan (pack de 10 uds)
Filamentos de tungsteno de alta calidad para microscopios electrónicos Tescan (serie VEGA), caja de 10 unidades.
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Desecador al vacío para rejillas TEM “Pelco Grid Vacuum Desiccator”
Mantén tus muestras para TEM libres de contaminación y oxígeno con este desecador al vacío. Ideal para almacenar y transportar hasta 50 rejillas TEM de manera segura, con capacidad de bombeo hasta 10^-3 mbar.
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Muestra para calibración microscopio SEM de estaño sobre carbono
Especimen estaño sobre carbono para alineacion de columnas, corregir astigmatismo y verificar resolucion. Partículas de <5 nm a 30 µm.
