Catálogo
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Targets Sputter Coater: formato disco o anulares alta pureza Ø19 a Ø82 mm
Debido a la naturaleza volátil de los precios en metales nobles, las tarifas aquí mostradas son de carácter orientativo y están sujetas a cambios sin previo aviso según fluctuación del mercado. Targets de alta pureza en formatos circulares y anulares (desde 19mm a 82 mm de diámetro exterior) para recubrimientos conductivos en muestras SEM. Compatibles con múltiples marcas y optimizados para resultados de alta resolución. Si no encuentras el metal o el tamaño que necesitas, ¡consúltanos!
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Set pinzas laboratorio PELCO® Pro High Precision con estuche
Set de 5 pinzas profesionales de alta precisión fabricadas en acero inoxidable no magnético. Ideal para manipulación técnica en microscopía, electrónica y laboratorios de I+D, presentadas en un estuche protector rígido.
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Membranas de nitruro de silicio para TEM, 8–200 nm múltiples ventanas
Soportes de nitruro de silicio ultra-baja tensión para TEM, fabricados con tecnología MEMS. Disponibles en espesores de 8 a 200 nm y varias configuraciones de ventana, ideales para aplicaciones de nanotecnología y biología molecular. -
Tapas (lids) herméticas DSC aluminio compatibles TA y AMI – 200 uds
Tapas herméticas DSC de aluminio, caja de 200 unidades para sellado de muestras en calorimetría diferencial de barrido.
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Equipo PELCO© succión vacío para pequeñas piezas o muestras
Este equipo de succión permite manipular muestras delicadas sin pinzas, facilitando su recogida y traslado con precisión.
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Manguera metálica flexible NW 25 de 1 m en acero inoxidable 304
Manguera de diámetro interno: 1″ (2.54 cm), para aplicaciones de alto vacío, fabricada en acero inoxidable 304. Ideal para sistemas de vacío que requieren durabilidad y resistencia a la corrosión.
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Finder SEM Grids – rejillas localización muestra pin stubs
Rejillas de búsqueda para SEM. Ayudan a identificar y localizar áreas de interés en una muestra para realizar análisis detallados.
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Ventanas stándar de nitruro de silicio para microscopía y Rayos X
Ventanas de soporte avanzadas Silson disponibles en Si3N4 y SiRN. Rango de espesor de 10 a 1000 nm y tamaños de marco desde TEM hasta 23.5 mm. Ofrecen una plataforma inerte, estable y plana a nivel atómico para microscopía de alta resolución (TEM, SEM, Rayos X), análisis in-situ y radiación de sincrotrón con múltiples configuraciones geométricas.
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Oblea de silicio Ø2″ (diámetro 5 cm) recubierta de oro
Wafer u oblea recubierta de una capa de oro de 50nm sobre silicio tipo P <111> de 500µm. Ideal para aplicaciones en nanotecnología y biotecnología.
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Filamentos de tungsteno microscopio Tescan (pack de 10 uds)
Filamentos de tungsteno de alta calidad para microscopios electrónicos Tescan (serie VEGA), caja de 10 unidades.
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Muestra para calibración microscopio SEM de estaño sobre carbono
Especimen estaño sobre carbono para alineacion de columnas, corregir astigmatismo y verificar resolucion. Partículas de <5 nm a 30 µm.
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Rejilla de prueba AFM para ejes X, Y y Z
Rejilla de prueba TG3D-3000/20, cuadrados, sin montar
