Catálogo
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Equipo PELCO© succión vacío para pequeñas piezas o muestras
Este equipo de succión permite manipular muestras delicadas sin pinzas, facilitando su recogida y traslado con precisión.
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Lacey Carbon grids on copper – rejillas TEM carbono / cobre
Grillas recubiertas por un film o lámina de carbono Lacey en cobre de diferentes mallas, ideales para estudios de nanotubos, cristales aciculares y especímenes biológicos o materiales.
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Manguera metálica flexible NW 25 de 1 m en acero inoxidable 304
Manguera de diámetro interno: 1″ (2.54 cm), para aplicaciones de alto vacío, fabricada en acero inoxidable 304. Ideal para sistemas de vacío que requieren durabilidad y resistencia a la corrosión.
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Finder SEM Grids – rejillas localización muestra pin stubs
Rejillas de búsqueda para SEM. Ayudan a identificar y localizar áreas de interés en una muestra para realizar análisis detallados.
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Set pinzas laboratorio PELCO® Pro High Precision con estuche
Este set incluye las siguientes pinzas. 00, 2A, 3C, 5 y 7
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Holey Carbon – rejillas TEM de cobre con carbon perforado
Películas de carbono perforado sobre rejillas de cobre, diseñadas para soportar muestras en microscopía electrónica de transmisión. Reducen el ruido de fondo y mejoran la calidad de imagen. -
Muestra para calibración microscopio SEM de estaño sobre carbono
Especimen estaño sobre carbono para alineacion de columnas, corregir astigmatismo y verificar resolucion. Partículas de <5 nm a 30 µm.
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Desecador al vacío para rejillas TEM “Pelco Grid Vacuum Desiccator”
Mantén tus muestras para TEM libres de contaminación y oxígeno con este desecador al vacío. Ideal para almacenar y transportar hasta 50 rejillas TEM de manera segura, con capacidad de bombeo hasta 10^-3 mbar.
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Filamentos de tungsteno microscopio Tescan (pack de 10 uds)
Filamentos de tungsteno de alta calidad para microscopios electrónicos Tescan (serie VEGA), caja de 10 unidades.
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Pinzas Cryo-TEM Dumont® compatibles con equipo FEI Vitrobot
Montaje completo de pinzas para Vitrobot Mark I–IV, con opción de mango autocerrable para manipulación precisa y con una sola mano de rejillas de microscopía. Ideal para laboratorios de cryomicroscopía electrónica.
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Rejilla de prueba TG3D-3000/20 para calibración en Direcciones X, Y y Z
Estructura tridimensional, esta rejilla está diseñada para la calibración simultánea en las direcciones X, Y y Z, así como para la calibración lateral de escáneres SPM y la detección de cualquier no linealidad lateral, histéresis, deformación y efectos de acoplamiento cruzado.
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Targets de alta pureza para sputter coater Ø57 mm – Ø28 mm
Targets de pulverización de alta pureza para sputter coaters tipo Cressington, Quorum o BESC. Disponibles en metales nobles y en otros metales o aleaciones.
