Microscopio Table Top SEM para Caracterización de Materiales
Microscopio electrónico de sobremesa para la caracterización de materiales: Fundamentos teóricos y demostración en vivo
La microscopía electrónica de barrido (SEM) supera los límites de los microscopios ópticos tradicionales, utilizando un haz de electrones para alcanzar resoluciones extraordinarias. Combinada con detectores EDX, permite analizar tanto la estructura como la composición química de los materiales, ofreciendo información clave en numerosos campos industriales y científicos.
Emilio Martín
Product Manager en Iesmat
Glenn Park
Regional Sales Manager en SECENG
📚 Agenda:
9:00 – 9:30
- Microscopía Electrónica de barrido: Fundamentos y Aplicación:
- Fundamentos de la microscopía electrónica de barrido (SEM)
- Diferencias con los microscopios ópticos
- Aplicación en la caracterización avanzada de materiales.
- Análisis de composición química con detectores EDX.
9:30 – 10:00
- Demostración en vivo del equipo de sobremesa Sec Alpha table top
📅 Fecha:
Día 2 de Abril
Acceso: Gratuito
Plazas: Limitadas
Plataforma: Online
