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Seminario Microscopía Electrónica

24 febrero, 2025

Seminario Presencial: Introducción a la microscopía electrónica y sus diferentes aplicaciones

La microscopía electrónica de barrido (SEM) supera los límites de los microscopios ópticos tradicionales, utilizando un haz de electrones para alcanzar resoluciones extraordinarias. Combinada con detectores EDX, permite analizar tanto la estructura como la composición química de los materiales, ofreciendo información clave en numerosos campos industriales y científicos.

Iesmat presenta una sesión práctica y teórica con los equipos de Bruker Nano Analytics y CIQTEK sobre el uso del SEM 3200, un equipo de alta resolución compatible con diferentes modos de vacío para obtener imágenes detalladas y un análisis avanzado de materiales.

¿Qué esperar del evento?

Conocimientos clave sobre microscopía electrónica

Aprenderás los fundamentos de la microscopía electrónica de barrido (SEM), sus diferencias con los microscopios ópticos y su aplicación en la caracterización avanzada de materiales. Veremos cómo esta tecnología permite obtener imágenes de ultra alta resolución y realizar análisis de composición química con detectores EDX.

Demostración en vivo con el SEM 3200 de CIQTEK

Durante la sesión práctica, realizaremos análisis en tiempo real con el microscopio SEM 3200 de CIQTEK. Exploraremos su capacidad para operar en distintos modos de vacío, la obtención de imágenes de electrones retrodispersados (BSE) y cómo el detector EDX de Bruker Nano Analytics proporciona información detallada sobre la composición de las muestras.

📅 Agenda:

Fecha: 18 de Marzo de 2025

9:45-10:00

10:00-11:00

11:00-11:15

11:15-12:30

Recepción de asistentes.

Conceptos esenciales y aplicación real de la microscopía electrónica de barrido

Coffe Break

Sesión práctica con nuestro microscopio electrónico de barrido SEM 3200 de CIQTEK

Emilio Martín

Product Manager Iesmat

¡Me registro!

Nanotecnología y Materiales Avanzados

• Caracterización de nanotubos de carbono y grafeno.
• Análisis de superficies y defectos en materiales nanoestructurados.
• Desarrollo de nuevos materiales con propiedades avanzadas.

Farmacéutica y Biomédica

• Análisis de estructuras celulares y tejidos.
• Estudio de nanopartículas en medicamentos.
• Control de calidad en la fabricación de dispositivos médicos.

Alimentos y Agricultura

• Estudio de estructuras en alimentos procesados.
• Análisis de microorganismos y contaminantes.
• Investigación en biotecnología para mejora de cultivos.

Energía (Petróleo, Renovables y Nuclear)

• Análisis de materiales para baterías y celdas de combustible.
• Estudio de la degradación de materiales en reactores nucleares.
• Evaluación de catalizadores en procesos de refinación de petróleo.

Textil y Polímeros

• Caracterización de fibras y tejidos a nivel micro y nanométrico.
• Análisis de defectos en polímeros y plásticos.
• Desarrollo de materiales con propiedades como telas hidrofóbicas.

Electrónica y de Semiconductores

• Inspección de circuitos integrados y microchips.
• Análisis de fallas en componentes electrónicos.
• Evaluación de materiales a nanoescala en semiconductores.

Automotriz y Aeroespacial

• Análisis de fracturas en metales y aleaciones.
• Evaluación de desgaste y corrosión de materiales.
• Control de calidad en componentes de alto rendimiento.

Sesión práctica con…

Microscopio Electrónico de Barrido de Tungsteno

SEM3200 es un microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno de alto rendimiento:

Alto y bajo vacío
Resolución 3 nm @ 30kV (SE)
5 ejes de movimiento AUTOMATICO de portamuestra (X, Y, R, T, Z)
Voltaje de aceleración: 0,2 – 30kV.
Magnificación: 100.000x

📍 Ubicación Madrid:

C/Anabel Segura 11, 28108 Alcobendas, Madrid

Oficinas Centrales Iesmat

Edificio B, Planta Baja, Oficina C

Acceso: Gratuito

Plazas: Limitadas

Idioma: Español

Las plazas son limitadas. ¡No pierdas la oportunidad de asistir a este seminario formativo y ampliar tus conocimientos sobre microscopía electrónica con el equipo SEM3200!