SOLUCIONES DE HITACHI PARA EL SECTOR QUÍMICO

Microscopio SEM de sobremesa:

Versatilidad de análisis

Estos sistemas basados en la Microscopía Electrónica de Barrido se emplean en una amplia variedad de sectores y aplicaciones. Gracias a esta técnica podemos examinar físicamente las estructuras de la muestra y la determinación de su composición elemental. Hitachi provee a sus clientes con rápidos y excelentes resultados del mundo micro y nano mediante análisis de imágenes de alta calidad. Muchos laboratorios de investigación se decantan por estos microscopios al abarcar tanto calidad de imagen como microanálisis.

FE-SEM – Microscopia electrónica de barrido por emisión de campo

En el caso de los FE-SEM la generación de iones por emisión de campo permite obtener mejores resoluciones comparadas con las obtenidas por generación termoiónica. Por otro lado, la estabilidad del haz es un valor añadido no solo a efectos de resolución, sino que permite el estudio complementario de diversas técnicas que pueden adaptarse a estos equipos como puede ser el caso de la nano litografía.

FIB-SEM – Microscopia electrónica de barrido con haz de iones focalizado

FIB son las siglas de Focused Ion Beam. Esta técnica está ampliamente asentada en semiconductores, ciencia de materiales y aplicaciones biológicas. El fundamento es similar al SEM, salvo que en este caso el haz de electrones se sustituye por un haz de iones (generalmente galio) para generar imágenes, eliminar material o realizar cortes en la muestra en función de la intensidad empleada.

Los FIB-SEM combinan ambas tecnologías, en el caso de los FIB-SEM de Hitachi nos encontramos con un sistema de triple haz que permite las máximas prestaciones en ambas técnicas. De forma simultánea se puede estudiar la estructura 3D de una muestra combinando el FIB con el FE-SEM característico de Hitachi de las más altas prestaciones.