Descubre el Lanzamiento del Nuevo HEM6000
Presentamos el Nuevo HEM6000: SEM de Alta Velocidad para Imágenes Nanométricas
En el mundo de la microscopía electrónica de barrido (SEM), el HEM6000 de CIQTEK marca un antes y un después. Este nuevo microscopio de alta velocidad no solo ofrece imágenes excepcionales de muestras de gran volumen, sino que lo hace a una velocidad hasta 5 veces mayor que los SEM de emisión de campo (FE-SEM) convencionales. Gracias a su innovadora tecnología de última generación, el HEM6000 se posiciona como una herramienta esencial para la investigación avanzada y el control de calidad en industrias que requieren imágenes a escala nanométrica con alta precisión y velocidad.
¿Qué hace al HEM6000 diferente?
El HEM6000 está equipado con un conjunto de tecnologías que lo hacen destacar en el mercado de microscopios electrónicos. Entre sus principales características, se incluyen:
- Cañón de electrones de corriente de haz grande y alto brillo: Ofrece una mayor intensidad de haz, lo que permite obtener imágenes de alta calidad en menos tiempo.
- Sistema de desviación del haz de electrones de alta velocidad: Aumenta significativamente la velocidad de adquisición de imágenes, alcanzando una velocidad de 10 ns por píxel.
- Desaceleración a alto voltaje: Mejora la calidad de la imagen al permitir un mayor control sobre la interacción del haz de electrones con la muestra.
- Eje óptico dinámico y lente objetivo combinada electrostática y electromagnética: Proporcionan una mejor focalización y minimizan las aberraciones, garantizando imágenes nítidas incluso a resoluciones extremadamente altas.
Características clave:
Rendimiento sin precedentes
El HEM6000 está diseñado para sobresalir en precisión y rapidez. Con una resolución de hasta 0,9 nm a 30 kV en STEM, este microscopio permite visualizar detalles subnanométricos, haciendo posible el análisis detallado de materiales complejos. Además, su capacidad para operar en distintos modos de voltaje de aceleración proporciona flexibilidad en la obtención de imágenes de alta resolución, con rangos que van desde 0.1 kV a 6 kV en modo de desaceleración, y de 6 kV a 30 kV en modo sin desaceleración.
Campo de visión amplio y calidad de imagen superior
Otra ventaja destacada del HEM6000 es su alto campo de visión de hasta 1 mm², lo que permite analizar muestras más grandes con mínima distorsión en los bordes. Esto resulta crucial en aplicaciones donde los detalles precisos y el contexto de la muestra son fundamentales para obtener resultados confiables.
Aplicaciones del HEM6000
El HEM6000 de CIQTEK está diseñado para una amplia variedad de aplicaciones científicas e industriales, incluyendo:
- Industria de componentes electrónicos: Su alta velocidad y precisión lo hacen ideal para la fabricación y control de calidad de chips, donde la inspección de defectos a nivel nanométrico es esencial.
- Biología: Facilita el análisis de muestras biológicas complejas, proporcionando imágenes detalladas que revelan estructuras celulares y moleculares con increíble nitidez.
¿Por qué elegir el HEM6000?
Con una combinación única de velocidad, resolución y versatilidad, el HEM6000 ofrece una solución incomparable para las industrias que dependen de imágenes de alta precisión a escala nanométrica. Su capacidad para obtener imágenes de alta calidad en un tiempo récord lo convierte en una herramienta imprescindible para avanzar en la investigación y desarrollo en sectores como la electrónica, la biotecnología y la ciencia de materiales.
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