FE-SEM (Field Emission Scanning Electron Microscopes) – Microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo de ultra alta resolución de confiabilidad comprobada (FE-SEM).
Proveedores
Seleccionar C-Therm Fluidan Hitachi Malvern Panalytical Microfluidics Particle Measuring Systems Postnova Sopat Surface Measurement Systems
Sectores
Seleccionar Alimentación-Agua y MedioAmbiente Automoción-Aeronautica Energía-Electrónica Farmaceutico-Cosmetica-Biotecnológia I+D-Servicios Laboratorio-Docencia Químico – Metales y Minerales
Tipos de Muestras
Seleccionar Aerosoles Disoluciones Emulsiones Espumas Gases Líquidos Sólidos Suspensiones
FIB-SEM
Sistema FIB de alto rendimiento
FE-SEM
